Изучение структуры и состава полимеров
жүктеу/скачать 283.58 Kb.
|
| Метод рентгено-структурного анализа
В основе метода лежит анализ дифракционной картины, полученной при рассеянии электромагнитного рентгеновского (λ 0.1 нм) излучения рассеивающими центрами – электронными оболочками атомов. Метод рентгеноструктурного анализа позволяет однозначно определить все детали кристаллической структуры (координаты атомов, длины связей, валентные углы и т.д.). Полимеры изучают рентгенографией на малых углах. Это метод широко используется для определения степени кристалличности полимеров, под которым понимают отношение суммарного рассеяния кристаллитов к общему рассеянию от аморфных и кристаллических областей. Для этого исследуют по отдельности кривые интенсивности рассеяния для аморфного эталонного образца, кристаллического эталонного образца и образца полимера с неизвестной кристалличностью. Степень кристалличности вычисляют по формуле:
χ I Ia i K (1),
с I I c a i где I - интенсивность рассеяния от исследуемого образца, Ia интенсивность кристаллического эталона, K - константа, которую определяют по наклону Если образец нельзя получить в чисто аморфной или кристаллической форме, проводят линию, соединяющую минимумы между кристаллическими пиками. Интенсивность рассеяния выше этой линии Ic обусловлена кристаллической фазой, а интенсивность рассеяния ниже этой линии I a связана с аморфной фазой. Степень кристалличности χc уравнению: рассчитывают по
s2 Ic (s) ds χc 0 s2 I (s) ds 0
отклонения дифрагированных лучей от направления падающих рентгеновских когерентного рентгеновского рассеяния от образца (как от аморфных, так и от кристаллических областей), жүктеу/скачать 283.58 Kb. Достарыңызбен бөлісу:
|