МАССА (лат. massa, букв.— глыба, ком, кусок), физ. величина, одна из осн. хар-к материи, определяющая её инерционные и гравитац. св-ва. Понятие «М.» было введено в механику И. Ньютоном в определении импульса (кол-ва движения) тела — импульс р пропорц. скорости свободного движения тела v:
p=mv, (1)
где коэфф. пропорциональности m — постоянная для данного тела величина, его М. Эквивалентное определение М. получается из ур-ния движения классической механики Ньютона:
f=mа. (2)
Здесь М.— коэфф. пропорциональности между действующей на тело силой f и вызываемым ею ускорением а. Определённая таким образом М. характеризует св-ва тела, явл. мерой его инерции (чем больше М. тела, тем меньшее ускорение оно приобретает под действием пост. силы) и наз. инерциальной или и н е р т н о й М.
В теории гравитации Ньютона М. выступает как источник поля тяготения. Каждое тело создаёт поле тяготения, пропорц. М. тела, и испытывает воздействие поля тяготения, создаваемого др. телами, сила к-рого также пропорц. М. Это поле вызывает притяжение тел с силой, определяемой законом тяготения Ньютона:
392
где r — расстояние между центрами масс тел, G — универсальная гравитационная постоянная, а m1 и m2 — М. притягивающихся тел. Из ф-лы (3) можно получить зависимость между М. тела m и его весом Р в поле тяготения Земли:
P=mg, (4)
где g=GM/r2 — ускорение свободного падения (М — М. Земли, rR, где R — радиус Земли). М., определяемая соотношениями (3) и (4), наз. г р а в и т а ц и о н н о й.
В принципе ниоткуда не следует, что М., создающая поле тяготения, определяет и инерцию того же тела. Однако опыт показал, что инертная и гравитац. М. пропорц. друг другу (а при обычном выборе ед. измерения численно равны). Этот фундам. закон природы наз. принципом эквивалентности. Экспериментально принцип эквивалентности установлен с очень большой точностью — до 10-12 (1971). Первоначально М. рассматривалась (напр., Ньютоном) как мера кол-ва в-ва. Такое определение имеет вполне определ. смысл только для однородных тел, подчёркивает аддитивность М. и позволяет ввести понятие плотности — М. ед. объёма тела. В классич. физике считалось, что М. тела не изменяется ни в каких процессах [закон сохранения М. (в-ва)].
Понятие «М.» приобрело более глубокий смысл в спец. теории относительности А. Эйнштейна (см. Относительности теория), рассматривающей движение тел (или ч-ц) с очень большими скоростями — сравнимыми со скоростью света с3•1010 см/с. В новой механике, наз. релятивистской, связь между импульсом и скоростью ч-цы даётся соотношением:
[при малых скоростях (v << с) это соотношение переходит в соотношение (1)]. Величину m0 называют массой покоя, а массу m движущейся ч-цы определяют как зависящий от скорости коэфф. пропорциональности между р и v.
т. е. М. ч-цы (тела) растёт с увеличением её скорости. В релятив. механике определения М. из ур-ний (1) и (2) неэквивалентны, т, к. ускорение перестаёт быть параллельным вызвавшей его силе и М. получается зависящий от направления скорости ч-цы. Согласно теории относительности, М. ч-цы связана с её энергией ξ соотношением:
М. покоя m0 определяет внутр. энергию ч-цы — т. н. энергию покоя ξ0=m0c2. Т.о., с М. всегда
связана энергия (и наоборот), поэтому в релятив. механике не существуют по отдельности законы сохранения М. и энергии — они слиты в единый закон сохранения полной (т. е. включающей энергию покоя ч-ц) энергии. Приближённое их разделение возможно лишь в классич. физике, когда v < и не происходит превращения ч-ц. При соединении ч-ц друг с другом с образованием устойчивого связ. состояния выделяется избыток энергии (равный энергии связи) ξ, к-рому соответствует М. m=ξ/с2. Поэтому М. составной ч-цы меньше суммы М. образующих её ч-ц на величину ξ/с2 (т. н. дефект масс). Это явление особенно заметно в ядерных реакциях.
Единицей М. в системе единиц СГС служит грамм, а в СИ — килограмм. М. атомов и молекул обычно измеряется в атомных единицах массы. М. элем. ч-ц принято выражать либо в ед. М. эл-на (mе), либо в энергетич. единицах (указывается энергия покоя соответствующей ч-цы). Так, М. эл-на (me) составляет 0,511 МэВ, М. протона — 1836,1 mе, или 938,2 МэВ, и т. д. Природа М.— одна из важнейших ещё не решённых задач физики. Принято считать, что М. элем ч-цы определяется полями, к-рые с ней связаны (эл.-магн., ядерным и др.). Однако количеств. теория М. ещё не создана. Не существует также теории, объясняющей, почему М. элем. ч-ц образуют дискр. спектр значений, и тем более позволяющей определить этот спектр.
• Джеммер М., Понятие массы в классической и современной физике, пер. с англ., М., 1967; X а й к и н С. Э., Физические основы механики, 2 изд., М., 1971.
Я. А. Смородинский.
МАССА ПОКОЯ частицы, масса ч-цы в системе отсчёта, в к-рой она покоится; одна из осн. характеристик элем. ч-цы, обычно наз. просто её массой. См. также Относительности теория.
МАСС-АНАЛИЗАТОР, устройство для пространств. или временного разделения ионов с разл. значениями отношения массы к заряду. Один из осн. элементов масс-спектрометра.
МАССОВАЯ СИЛА, то же, что объёмная сила.
МАССОВОЕ ЧИСЛО, суммарное число нуклонов (нейтронов и протонов) в ат. ядре. Различно для изотопов одного хим. элемента.
МАСС-СЕПАРАТОР, прибор для измерения массовых чисел А нуклидов, образующихся в яд. реакциях на ускорителях или в яд. реакторах. При изучении радиоактивных долгоживущих нуклидов (период полураспада > 1 мин) в кач-ве М.-с. используют статич. масс-спектрометры со спец. конструкцией ионного источника, позволяющей быстро помещать образец в источник ионов или облучать его непосредственно в масс-спектрометре. Для определения А короткоживущих нуклидов используются М.-с. с торможением ионов в камере, наполненной газом и помещённой в поперечное магн. поле. При определ. условиях изменение заряда иона (при торможении ядра «обрастают» эл-нами) компенсируется изменением его скорости, и радиус траектории определяется лишь массой иона. Разрешающая способность газонаполненных М.-с. ~ 100, мин. время анализа
~10-3 c.
И. О. Лейпунский.
МАСС-СПЕКТРОМЕТР, прибор для разделения ионизов. молекул и атомов по их массам, основанный на воздействии магн. и электрич. полей на пучки ионов, летящих в вакууме. В М.-с. регистрация ионов осуществляется электрич. методами, в м а с с - с п е к т р о г р а ф а х — по потемнению фоточувствит. слоя.
М.-с. (рис. 1) обычно содержит устройство для подготовки исследуемого в-ва 1, ионный источник 2, где это в-во частично ионизуется и происходит формирование ионного пучка, масс-анализатор 3, в к-ром происходит разделение ионов по массам, точнее, обычно по величине отношения массы m иона к его заряду е, приёмник ионов 4, где ионный ток преобразуется в электрич. сигнал, к-рый усиливается
Рис. 1. Блок-схема масс-спектрометра (пунктиром обведена вакуумируемая часть прибора).
393
(усилитель 5) и регистрируется. В регистрирующее устройство 6, помимо информации о кол-ве ионов (ионный ток), из анализатора поступает также информация о массе ионов. М.- с. содержит системы электрич. питания 8 и устройства 9, создающие и поддерживающие высокий вакуум в ионном источнике и анализаторе. Иногда М.-с. соединяют с ЭВМ.
При любом способе регистрации ионов спектр масс в конечном счёте представляет собой зависимость ионного тока I от m. Напр., в масс-спектре свинца (рис. 2) каждый из пиков
Рис. 2. Масс-спектр свинца, образующегося при распаде тория; m50% — ширина пика на полувысоте, m10% — на уровне 1/10 от макс. интенсивности.
ионного тока соответствует однозарядным ионам изотопов свинца. Высота каждого пика пропорц. содержанию изотопа в свинце. Отношение массы иона к ширине пика 8т (в атомных единицах массы) наз. разрешающей способностью R М.-с.: R=m/m. Т. к. m на разных уровнях относительно интенсивности ионного тока различна, то R также различна. Напр., в области пика изотопа 208Pb (рис. 2) на уровне 10% относительно вершины пика R = 230, а на полувысоте R=380. Для полной хар-ки разрешающей способности прибора необходимо знать форму ионного пика, к-рая зависит от мн. факторов. Иногда разрешающей способностью наз. значение той наибольшей массы, при к-рой два пика, отличающиеся по массе на единицу, разрешаются' до заданного уровня. Т. к. для мн. типов М.-с. R не зависит от отношения m/e, то оба приведённых определения R совпадают. Считается, что М.-с. с R до 102 имеет низкую разрешающую способность, с R ~ 102 —103 — среднюю. с R ~103—104 — высокую, с R~104—105 — очень высокую.
Если в-во вводится в ионный источник в виде газа, то чувствительностью М.-с. наз. отношение тока, создаваемого ионами данной массы заданного в-ва. к парциальному давлению этого в-ва в ионном источнике. Эта величина в М.-с. разных типов лежит в диапазоне 10-6—10-3 А/мм рт. ст. Относит, чувствительностью наз. мин. содержание в-ва, к-рое ещё может быть обнаружено в смеси с помощью М.-с. Для разных М.-с., смесей и в-в
она лежит в диапазоне 10-3—10-7%. За абс. чувствительность иногда принимают мин. кол-во в-ва в граммах, к-рое необходимо ввести в М.-с. для обнаружения этого в-ва.
Масс-анализаторы. По типу анализаторов различают статич. и динамич. М.-с. В статич. масс-анализаторах для разделения ионов используются электрич. и магн. поля, постоянные или практически не изменяющиеся за время пролёта иона через прибор. Ионы с разл. значениями m/e движутся в анализаторе по разным траекториям (см. Электронная и ионная оптика). В масс-спектрографах пучки ионов с разными величинами m/e фокусируются в разных местах фотопластинки, образуя после проявления следы в виде полосок (входное и выходное отверстия ионного источника обычно имеют форму прямоуг. щелей). В статич. М.-с. пучок ионов с заданными m/e фокусируется на щель приёмника ионов. При плавном изменении магн. или электрич. поля в приёмную щель последовательно попадают пучки ионов с разными m/e. При непрерывной записи ионного тока получается график с ионными пиками — масс-спектр (в масс-спектрографе используются микрофотометры).
В наиболее распространённом статич. масс-анализаторе с однородным магн. полем (рис. 3) ионы, образованные в ионном источнике, выходят из щели шириной S1 в виде расходящегося пучка, к-рый в магн. поле разделяется на пучки ионов с разными m/e (mа/e, mb/e, mс/e),
Рис. 3. Схема статич. масс-анализатора с однородным магн. полем: S1 и S2 — щели источника и приёмника ионов; ОАВ — область однородного магн. поля H, перпендикулярного плоскости рисунка; тонкие сплошные линии — границы пучков ионов с разными m/e; r — радиус центр. траектории ионов.
причём пучок ионов с массой mb фокусируется на щель шириной S2 приёмника ионов. Величина mb/e определяется выражением:
где mb — масса иона, е — его заряд (в ед. алементарного электрического заряда), r — радиус центр. траектории ионов (в см), Н — напряжённость магн. поля (в Э), V — ускоряющий потенциал (в В). Развёртка масс-спектра производится изменением Н или V. Первый метод предпочтительнее, т. к. в этом случае по ходу развёртки не изменяются условия вытягивания ионов из источника.
Разрешающая способность статич-М.-с. определяется из соотношения:
где 1 — реальная ширина пучка в месте, где он попадает в щель приёмника S2 Если бы фокусировка ионов была идеальной, то в случае X1=X2 (рис. 3) 1 была бы в точности равна S1. В действительности 1>S1, что уменьшает разрешающую способность М.-с. Одна из причин уширения пучка — неизбежный разброс по кинетич. энергии у ионов, вылетающих из ионного источника (см. ниже). Другие причины — рассеяние ионов в анализаторе из-за столкновения с молекулами остаточного газа, а также электростатич. «расталкивание» ионов в пучке. Для ослабления влияния этих факторов применяют т. н. «наклонное вхождение» пучка в анализатор и криволинейные границы магн. поля. В нек-рых М.-с. используют неоднородные магн. поля, а также ионные призмы (см. Электронные призмы). Для уменьшения рассеяния ионов стремятся к созданию в анализаторе высокого вакуума (р:10-8 мм рт. ст.). Для ослабления влияния разброса по энергиям применяют М .-с. с двойной фокусировкой, к-рые фокусируют на щель S2 ионы с одинаковыми m/e, вылетающие не только по разным
Рис. 4. Схема масс-анализатора с двойной фокусировкой. Пучок ускоренных ионов, вышедших из щели S1 источника ионов, проходит через электрич. поле цилиндрич. конденсатора, к-рый отклоняет ионы на 90°, затем через магн. поле, отклоняющее ионы ещё на 60°, и фокусируется в щель S2 приёмника коллектора ионов.
направлениям, но и с разными энергиями. Для этого ионный пучок пропускают через магнитное и отклоняющее электрич. поле спец. формы (рис. 4). Сделать S1 и S2 меньше неск. мкм технически трудно. Кроме того, это привело бы к очень малым ионным токам. Поэтому для получения R ~ 103—104 используют большие r, т. е. длинные ионные траектории (до неск. м).
В динамич. масс-анализаторах для разделения ионов с разными m/e используют, как правило, разные времена пролёта ионами определ. расстояния и воздействие на ионы импульсных или радиочастотных электрич. полей с периодом, меньшим или равным времени пролёта ионов через анализатор. Существует более 10 типов динамич. масс-анализаторов: время-пролётный, радиочастотный,
394
квадрупольный, фарвитрон, омегатрон, магниторезонансный, циклотронно-резонансный и др.
Во в р е м я - п р о л ё т н о м м а с с-а н а л и з а т о р е (рис. 5) ионы образуются в ионном источнике и очень коротким электрич. импульсом «впрыскиваются» в виде «ионного пакета» через сетку .1 в анализатор 2, представляющий собой эквипотенциальное пр-во. В процессе дрейфа к коллектору 3 исходный пакет «расслаивается» на неск. пакетов, каждый из к-рых состоит из ионов с одинаковыми m/e.
Рис. 5. Схема время-пролётного масс-анализатора. Пакет ионов с массами m1 и m2 (чёрные и белые кружки) движется в дрейфовом пр-ве анализатора так, что тяжёлые ионы (m1) отстают от лёгких (m2).
Расслоение обусловлено тем, что в исходном пакете энергии всех ионов одинаковы, а их скорости и, следовательно, времена пролёта t через анализатор длиной L обратно пропорц. m :
t=L(m/2eV). (3)
Последовательность ионных пакетов, приходящих на коллектор, образует масс-спектр, к-рый регистрируется. Разрешающая способность R ~ 103. В радиочастотном масс-анализаторе (рис. 6) ионы
Рис. 6. Схема радиочастотного масс-анализатора. Ионы с определ. скоростью и, следовательно, определ. массой, внутри каскада .ускоряясь ВЧ полем, получают прирост кинетич. энергии, достаточный для преодоления тормозящего поля и попадания на коллектор.
приобретают в ионном источнике энергию eV и проходят через систему последовательно расположенных сеточных каскадов. Каждый каскад представляет собой три плоскопараллельные сетки 1,2, 3, расположенные на
равном расстоянии друг от друга. ср. сетке относительно двух крайних приложено ВЧ электрич. поле Uвч. При фиксированных частоте этого поля и энергии ионов eV только ионы с определённым m/e имеют такую скорость v, что, двигаясь между сетками 1 и 2 в полупериоде, когда поле между ними явл. ускоряющим для ионов, они пересекают сетку 2 в момент смены знака поля и проходят между сетками 2 и 3 также в ускоряющем поле. Т. о., они получают макс. прирост энергии и попадают на коллектор. Ионы др. масс, проходя эти каскады, либо тормозятся полем, т. е. теряют энергию, либо получают недостаточный прирост энергии и отбрасываются в конце пути от коллектора высоким тормозящим потенциалом {U3. В результате на коллектор попадают только ионы с определённым m/e. Масса таких ионов определяется из соотношения:
m=а(V/s22), (4)
где а — постоянная прибора, s — расстояние между сетками. Перестройка анализатора на регистрацию ионов др. масс осуществляется изменением либо нач. энергии ионов, либо частоты ВЧ поля.
В к в а д р у п о л ь н о м м а с с - а н а л и з а т о р е, или ф и л ь т р е м а с с, разделение ионов осуществляется в поперечном электрич. поле с гиперболич. распределением потенциала. Поле создаётся квадрупольным конденсатором, между парами стержней к-рого приложены постоянное и ВЧ напряжения (рис. 7). Пучок ионов вводится в вакуумную камеру анализатора вдоль оси квадруполя через отверстие 1. При фиксиров. значениях частоты и амплитуды перем. напряжения U0 только у ионов с определ. значением m/e амплитуда колебаний в направлении, поперечном оси анализатора, не превышает рас-
стояния между стержнями. Такие ионы за счёт нач. скорости проходят через анализатор, и, выходя из него через отверстие 2, регистрируются, попадая на коллектор ионов. Сквозь квадруполь проходят ионы, масса к-рых удовлетворяет условию:
m=aU0/2, (5)
где а — постоянная прибора. Амплитуда колебаний ионов др. масс нарастает по мере их движения в анализаторе так, что эти ионы достигают стержней и нейтрализуются. Перестройка на регистрацию ионов др. масс осуществляется изменением амплитуды U0 или частоты перем. составляющей напряжения. Разрешающая способность R ~ 103.
В ф а р в и т р о н е ионы образуются непосредственно в самом анализаторе при соударениях молекул с эл-нами, летящими с катода, и совершают колебания вдоль оси прибора между электродами 1 и 2 (рис. 8) с частотой . Колебания обусловлены
Рис. 8. Схема фарвитрона.
распределением потенциала между электродами. При совпадении частоты этих колебаний с частотой перем. напряжения Uвч, подаваемого на сетку, ионы приобретают дополнит. энергию, преодолевают потенциальный барьер и попадают на коллектор. Условие резонанса имеет вид:
=a(U0/m), (6) где а — постоянная прибора.
В динамич. М.-с. с поперечным (относительно траектории ионов) магн. полем разделение ионов по массам основано на совпадении циклотронной частоты иона с частотой перем. напряжения, приложенного к электродам анализатора.
Рис, 9. Схема анализатора омегатрона.
Так, в о м е г а т р о н е (рис. 9) под действием приложенных высокочастотного электрич. поля Е и перпендикулярного ему пост. магн. поля Н ионы движутся по дугам окружности. Ионы, циклотрон-
395
ная частота к-рых совпадает с частотой поля E, движутся по спирали и достигают коллектора. Масса этих ионов удовлетворяет соотношению:
m=аH/ , (7)
где а — постоянная прибора.
В м а г н и т о р е з о н а н с н о м масс-анализаторе (рис. 10) используется постоянство времени облёта ионами данной массы круговой траектории. Из ионного источника
Рис. 10. Схема магниторезонаненого масс-анализатора (магн. поле H перпендикулярно плоскости рисунка).
1 близкие по массе ионы (область траекторий к-рых заштрихована), двигаясь в однородном магн. поле, попадают в модулятор 2, где формируется тонкий пакет ионов, к-рые за счёт полученного в модуляторе ускорения начинают двигаться по орбите II. Разделение по массам осуществляется в результате ускорения «резонансных» ионов, циклотронная частота ц к-рых равна частоте поля модулятора или =nц (n — целое число). Такие ионы в течение неск. оборотов ускоряются модулятором и, двигаясь по раскручивающейся спирали, попадают на коллектор 3. Масса ионов обратно пропорц. со, R 2,5•104.
Рис. 11. Циклотронно-резонансный масс-анализатор.
В ц и к л о т р о н н о - р е з о н а н с н о м М.-с. (рис. 11) происходит резонансное поглощение ионами эл.-магн. энергии при совпадении циклотронной частоты ионов с частотой перем. электрич. поля в анализаторе. ВЧ электрич. поле в области анализатора позволяет идентифицировать ионы с данной величиной m/e по резонансному поглощению энергии ионами при совпадении частоты поля и циклотронной частоты ионов. Ионы движутся по циклоидам в однородном магн. поле Н с циклотронной частотой орбит. движения
=eH/mc (8)
и попадают на коллектор. Разрешающая способность R 2•103.
Разрешающая способность динамич. масс-анализаторов определяется сложной совокупностью факторов. Помимо влияния объёмного заряда и рассеяния ионов в анализаторе для время-пролётного М.-с. важную роль играет отношение времени, за к-рое ионы пролетают расстояние, равное ширине ионного пакета, к общему времени пролёта ионами пр-ва дрейфа; для квадрупольного М.-с. существенно число колебаний ионов в анализаторе и соотношение пост. и перем. составляющих электрич. полей; для омегатрона — число оборотов, к-рое совершает ион в анализаторе, прежде чем попадает на коллектор ионов, и т. д.
Для М.-с. с очень высокой разрешающей способностью, а также для лаб. приборов, от к-рых требуется сочетание высокой разрешающей способности с большой чувствительностью, широким диапазоном измеряемых масс и воспроизводимостью результатов измерений, применяются статич. масс-анализаторы.
Динамич. М.-с. используются: время-пролётные М.-с.— для регистрации процессов длительностью от 102 до 10-3 с, радиочастотные М.-с. (малые масса, габариты и потребляемая мощность) — в косм. исследованиях, квадрупольные М.-с. (высокая чувствительность) — при работе с мол. пучками (см. Молекулярные и атомные пучки), магниторезонансные М.-с.— для измерения очень больших изотопных отношений, циклотронно-резонансные М.-с.— для изучения ионно-мол. реакций.
Ионные источники. В М.-с. используются разл. способы ионизации:
1) ионизация электронным ударом,
2) фотоионизация, 3) ионизация в сильном электрич. поле (полевая ионная эмиссия), 4) ионизация ионным ударом (ионно-ионная эмиссия), 5) поверхностная ионизация, 6) искровой разряд (в а к у у м н а я и с к р а), 7) ионизация под действием лазерного излучения или электронных, ионных и атомных пучков. В масс-спектроскопии наиб. часто используются: способ 1 — при анализе газов и легко испаряемых тв. в-в; 2 — для анализа состава поверхности тв. тел; 3 — для ионизации газов и органич. соединений, наносимых на поверхность электрода (д е с о р б ц и я п о л е м); 5, 6, 7 — для анализа трудно испаряемых тв. в-в (одновременно испарение и ионизация); 6 — при анализе сложных органич. соединений, а также при изотопном анализе в-в с низкими энергиями ионизации. Способ 7 благодаря большому энергетич. разбросу ионов обычно требует анализаторов с двойной фокусировкой. Ионизация молекул без
значит. диссоциации (мягкая ионизация) осуществляется с помощью эл-нов, энергия к-рых лишь на 1—3 эВ превосходит энергию ионизации молекул, а также с использованием способов 2, 3, 4.
Регистрация ионных токов. Величины ионных токов, создаваемых в М.-с., определяют требования к их усилению и регистрации. Ионные токи при ионизации электронным ударом (при энергии эл-нов 40—100 эВ и ширине щели источника S1 в неск. десятков мкм) ~10-10—10-9 А. Для др. способов ионизации они обычно меньше. Получаемые при мягкой ионизации токи обычно ~10-12 —10-14 А. Чувствительность применяемых в М.-с. усилителей ~10-15—10-16 А при постоянной времени от 0,1 до 10 с. Дальнейшее повышение чувствительности или быстродействия М.-с. достигается применением электронных умножителей, повышающих чувствительность до 10-18—10-19, а также систем, позволяющих регистрировать отд. ионы.
Такая же чувствительность достигается в масс-спектрографах за счёт длит. экспозиции. Однако из-за малой точности измерения ионных токов и громоздкости устройств введения фотопластинок в вакуумную камеру анализатора фоторегистрация масс-спектров сохранила определ. значение лишь при очень точных измерениях масс, а также в тех случаях, когда необходимо одновременно регистрировать весь масс-спектр (из-за нестабильности источника ионов, напр. при элем. анализе в случае ионизации вакуумной искрой).
• А с т о н Ф., Масс-спектры и изотопы, пер. с англ., М., 1948; Р а ф а л ь с о н А. Э., Шерешевский А. М., Масс-спектрометрические приборы, М., 1968; Д ж е й р а м Р., Macс-спектрометрия. Теория и приложения, пер. с англ., М., 1969; С л о б о д е н ю к Г. И., Квадрупольные масс-спектрометры, М., 1974.
В. Л. Тальрозе.
МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ (масс-спектрометрия, масс-спектральный анализ), метод исследования в-ва путём определения масс атомов и молекул, входящих в его состав, и их кол-в. Совокупность значений масс и их относит. содержаний наз. м а с с - с п е к т р о м (рис.). В М.-с. используется разделение в вакууме ионов с разными отношениями массы m к заряду е под воздействием электрич. и магн. полей (см. Масс-спектрометр). Поэтому исследуемое в-во прежде всего подвергается ионизации (если оно не ионизовано, напр. в электрич. разряде или в ионосферах планет). В случае жидких и тв. в-в их либо предварительно испаряют, а затем ионизуют, либо же применяют поверхностную ионизацию. Чаще исследуют положит. ионы.
Первые масс-спектры были получены в Великобритании Дж. Дж. Томсоном (1910), а затем Ф. Астоном (1919). Они привели к открытию стабильных изотопов. Вначале М.-с. применялась преим. для определения изотопного
396
Рис. Macс-спектрограмма (а), полученная на масс-спектрографе с двойной фокусировкой, и фотометрич. кривая этой спектрограммы (б) в области массового числа 20.
состава элементов и точного измерения ат. масс. М.-с. до сих пор — один из осн. методов получения информации о массах ядер и атомов. Вариации пзотопного состава элементов могут быть определены с относит. погрешностью 10-2 %, а массы ядер с относит. погрешностью 10-5 % для лёгких и 10-4 % для тяжёлых элементов. Высокая точность и чувствительность М.-с. как метода изотопного анализа привели к её применению и в р. областях, где существенно знание изотопного состава элементов, прежде всего в яд. энергетике. В геологии и геохимии масс-спектральное измерение изотопного состава ряда элементов Pb, Ar и др.) лежит в основе методов определения возраста горных пород и рудных образований. М.-с. широко используется в химии для элементного и структурного мол. анализа. В физико-хим. исследованиях М.-с. применяется при исследованиях процессов ионизации, возбуждения ч-ц и др. задач физ. и хим. кинетики; для определения энергии ионизации, теплоты испарения, энергии связи атомов в молекулах и т. п. С помощью М.-с. проведены измерения нейтрального и ионного состава верхней атмосферы Земли, Венеры, Марса (возможны аналогичные измерения состава атмосфер др. планет). М.-с. начинает применяться как экспрессный метод газового анализа в медицине. Принципы М.-с. лежат в основе устройства наиб. чувствит. течеискателей. Высокая абс. чувствительность метода М.-с. позволяет использовать то для анализа очень небольшого кол-ва в-ва (~10-13 г).
• См. лит. при ст. Масс-спектрометр.
В. Л. Тальрозе.
МАССЫ ИЗБЫТОК, разность массы атома, выраженной в атомных единицах массы, и его массового числа А .
М. и. может быть как положительным,
так и отрицательным.
• Кравцов В. А., Массы атомов и энергия связи ядер, М., 1965.
МАССЫ СОХРАНЕНИЯ ЗАКОН, см. Мacca и Сохранения законы.
МАСШТАБ ИЗОБРАЖЕНИЯ, отношение линейного размера изображения к линейному размеру предмета. Служит хар-кой проекционных систем и определяется их увеличением. Выбор М. и. диктуется размерами изображаемого объекта: у телескопа, фотоаппарата, глаза М. и. меньше единицы (у телескопа М. и. практически равен нулю), а у микроскопа, кино- и диапроекторов, фотоувеличителей, ионных проекторов и электронных микроскопов больше единицы. Если изображение получается с помощью неск. последоват. проекций, его М. и. определяется произведением М. и. каждой проекции в отдельности.
А. П. Гагарин.
МАСШТАБНАЯ ИНВАРИАНТНОСТЬ (скейлинг), свойство неизменности ур-ний, описывающих к.-л. физ. процесс или явление, при одновременном изменении всех расстояний и отрезков времени в одно и то же число раз. (В квант. теории этому соответствует инвариантность относительно изменения импульса и энергии в одно и то же число раз.) Для этого необходимо, чтобы как в ур-ниях, так и в граничных условиях отсутствовали параметры, имеющие размерность длины или массы. На расстояниях, сравнимых с размерами атома, М. и. отсутствует (хотя она наблюдается для нек-рого класса макроскопич. физ. явлений, напр. в гидродинамике), но на расстояниях много меньших размеров адронов (~10-13 см) в сильном вз-ствии не обнаруживаются к.-л. параметры размерности длины и св-во М. и. кажется вполне возможным. В применении к процессам с реальными ч-цами, энергия ξ и импульс р к-рых связаны соотношением ξ2= m2c4+p2c2 (где m — масса покоя ч-цы), наличие размерного параметра та препятствует непосредств. проявлению М. и. Однако экспериментально установлено, что в нек-рых случаях зависимость сечений процессов при высоких энергиях (ξ>> mс2) от массы оказывается слабой и М. и. приближённо выполняется. Наиб. известные из таких процессов следующие.
а) Глубоко неупругое лептон-адронное рассеяние, напр. e+hе'+Х (где е, е' — начальный и конечный эл-н, h — начальный адрон, X — совокупность нерегистрируемых конечных адронов), безразмерные формфакторы к-рого вместо зависимости от двух импульсных переменных [квадрата переданного четырёхмерного импульса (4-импульса) q2=(ре-pе')2 и квадрата энергии системы X (в системе её центра инерции), M2Xс4= (pе-pe'+ph)3c2, где ре, ре', рh — 4-импульсы соответственно эл-на е, е' и адрона h] в области |q2|>>1 (ГэВ/с)2 зависят только от их безразмерного отношения q2/M2Xc2 (т. н. скейлинг Бьёркена, названный по имени амер. физика Дж. Бьёркена; см. Партоны).
Более точные измерения показывают, что эта М. и. справедлива лишь для не слишком большого интервала передач импульса. Отклонение от скейлинга в этом случае, как предполагают, связано с процессами вз-ствия кварков и глюонов, согласно законам квантовой хромодинамики.
б) Инклюзивные адронные процессы а+bc+Х, инвариантное сечение к-рого вместо зависимости от продольных по отношению к оси соударения компонент трёхмерных импульсов ра и рLс адронов а и с (в системе центра инерции) в области pа>pLс>> 1 ГэВ/с и малых поперечных импульсов, рTс << 1 ГэВ/с, зависит только от их отношения (т. н. скейлинг Фейнмана, названный по имени амер. физика Р. Фейнмана). Эта М. и. также оказывается нарушенной для ч-ц, рождающихся с относительно малой энергией в системе центра инерции (т. н. область нионизации.
А. В. Ефремов.
МАТЕМАТИЧЕСКИЙ МАЯТНИК, см. Маятник.
МАТЕРИАЛЬНАЯ ТОЧКА, понятие, вводимое в механике для обозначения объекта, к-рый рассматривается как точка, имеющая массу. Положение М. т. в пр-ве определяется как положение геом. точки, что существенно упрощает решение задач механики. Практически тело можно считать М. т. в случаях, когда оно движется поступательно или когда вращат. часть его движения можно в условиях рассматриваемой задачи не учитывать (напр., при изучении движения Земли вокруг Солнца). При движении любой механич. системы (в частности, тв. тела) её центр масс (центр тяжести) движется так же, как двигалась бы М. т. с массой, равной массе всей системы, под действием всех внеш. сил, приложенных к системе.
МАТОВАЯ ПОВЕРХНОСТЬ, поверхность с микроскопич. неровностями, размеры к-рых близки к длинам волн видимого света (380—760 нм, или 3800—7600 Å). При падении света на М. п. он отражается от неё д и ф ф у з н о, т. е. рассеивается во все стороны (от гладкой поверхности — правильно, или зеркально; см. Отражение света). При этом в широком интервале углов падения света (исключая углы, соответствующие правильным отражению и преломлению, а также большие углы, >60—70°) приближённо выполняется Ламберта закон.
МАТРИЦА ПЛОТНОСТИ (статистический оператор), оператор, при помощи к-рого можно вычислить ср. значение любой физ. величины в квант. статистич. механике и, в частном случае, в квант. механике. Термин «М. п.» связан с тем, что статистич. оператор задаётся обычно в виде матрицы mn,
397
строки и столбцы к-рой нумеруются индексами mn, отвечающими полному набору квант. чисел, описывающих состояние системы, а её диагональные элементы mn определяют вероятности соответствующих состояний.
М. п. в квант. статистич. механике играет такую же роль, как ф-ция распределения в классич. статистич. механике.
В квант. механике состояние системы описывается волн. ф-цией (x), соответствующей максимально полному набору данных о системе; такое состояние наз. ч и с т ы м с о с т о я н и е м. Ср. значение любой физ. величины Ã, представляемой оператором Â , в состоянии, описываемом волн. ф-цией (х), равно: Ã=∫*(x)Â(x)dx, где интегрирование проводится по координатам всех ч-ц (для ч-ц со спином проводится, кроме того, суммирование по возможным значениям спина; * — величина, комплексно сопряжённая ). Вся квант. механика, за исключением нек-рых вопросов теории измерений, имеет дело с чистыми состояниями. В квант. статистич. механике состояние системы нельзя описать волн. ф-цией из-за отсутствия полной (максимально возможной) информации о квант.-механич. системе. Состояние, не основанное на полном (в смысле квант. механики) наборе данных о системе, в отличие от чистого наз. смешанным состоянием, или смесью состояний; такое состояние описывается М. п. mn. Ср. значение любой физ. величины A , к-рой соответствует оператор Â, а в представлении квант. чисел m и n соответствует матрица Аnm, равно:
Ã=m,n mnАnm. Это усреднение включает как усреднение, связанное с вероятностным хар-ром квант. описания, так и статистич. усреднение, обусловленное неполнотой сведений о рассматриваемой системе, но эти операции не могут быть отделены друг от друга.
В частном случае М. п. может зависеть от координат ч-ц: (х, х'), где х означает совокупность координат ч-ц x1, x2, ..., xn, а х' —совокупность x'1, х'2, ..., x'n (N — число ч-ц в системе), т. е. координаты ч-ц играют роль матричных индексов М. п. В координатном представлении М. п. связана с mn соотношением (х, х') =m,n *n(x')m(x). В этом представлении диагональные элементы М. п.
(х, х) определяют плотность вероятности в состоянии х. Для ч-ц со спином надо учитывать, кроме xi, также спиновые переменные. В Бозе — Эйнштейна статистике М.п. симметрична относительно перестановок х1, х2,..., xn (или штрихованных переменных). Для ч-ц со спином вместе с координатами следует переставлять и спины.
В Ферми — Дирака статистике М.п. антисимметрична.
В теории физ. измерений применение М. п. связано с тем, что квант. система, находящаяся до измерения в чистом состоянии, после измерения (в результате вз-ствия с измерит. прибором) будет находиться уже в смешанном состоянии.
М. п. удовлетворяет квант. ур-нию Лиувилля (или уравнению Неймана), к-рое определяет закон эволюции М. п. во времени и служит основой для неравновесной статистич. механики. Это ур-ние позволяет вычислить реакцию статистич. системы, находящейся в статистич. равновесии, на внешние возмущения (напр., на включение электрич. или магн. поля), а также построить статистич. операторы для систем, находящихся в неравновесном состоянии, когда имеются потоки частиц, энергии или импульса.
• X и л л Т., Статистическая механика, пер. с англ., М., 1960, §9; Ландау Л. Д., Л и ф ш и ц Е. М., Статистическая физика, 3 изд., ч. 1, М., 1976, §5; Боголюбов Н. Н., Лекции по квантовой статистике, в его кн.: Избр. труды, т. 2, К., 1970, раздел 1, § 1; 3 у б а р е в Д. Н., Неравновесная статистическая термодинамика, М., 1971, § 7.
Д. Н. Зубарев.
МАТРИЦА РАССЕЯНИЯ (S-матрица),
совокупность величин (матрица), описывающая процесс перехода квантовомеханич. систем из одних состояний в другие при их вз-ствии (рассеянии). Понятие «М. р.» введено нем. физиком В. Гейзенбергом в 1943.
При вз-ствии система переходит из одного квант. состояния, начального (его можно отнести к моменту времени t=-), в другое, конечное (t=+). Если обозначить набор всех квант. чисел, характеризующих нач. состояние, через i, а конечное — через f, то амплитуда перехода (амплитуда процесса), квадрат модуля к-рой определяет вероятность данного процесса, может быть записана как Sfi. Совокупность амплитуд процессов образует таблицу с двумя входами (i — номер строки, f — номер столбца), к-рая и наз. М. р. S. Каждая амплитуда явл. элементом этой матрицы (матричным элементом). Наборы квант. чисел i, f могут содержать как непрерывные величины (энергию, угол рассеяния и др.), так и дискретные (орбитальное квант. число, спин, изотопический спин, массу и т. д.). В простейшем случае системы двух бесспиновых ч-ц в нерелятив. квант. механике состояние определяется относит. импульсом ч-ц р; тогда амплитуда процесса — амплитуда рассеяния явл. ф-цией двух переменных — энергии ξ и угла рассеяния , Sfi=F(ξ, ). В общем случае М. р. содержит элементы, отвечающие как упругому рассеянию, так и процессам превращения и рождения ч-ц. Квадрат модуля матричного элемента |Sfi|2 определяет вероятность соответствующего процесса (или его эффективное сечение).
Нахождение М. р.— осн. задача квант. механики и квант. теории поля. М. р. содержит всю информацию о поведении системы, если известны не только численные значения, но и аналитич. св-ва её элементов; в частности, её полюсы определяют связанные состояния системы (а следовательно, дискр. уровни энергии). Из осн. принципов квант. теории следует важнейшее св-во М. р.— её унитарность. Оно выражается в виде соотношения SS+=1 [где S+ — матрица, эрмитово сопряжённая S, т. е. (S+)fi= S*if, где знак * означает комплексное сопряжение], или
и отражает тот факт, что сумма вероятностей процессов по всем возможным каналам реакции должна равняться единице. Соотношение унитарности позволяет устанавливать важные соотношения между разл. процессами, а в нек-рых случаях даже полностью решить задачу. В релятив. квант. механике существует направление, в к-ром М. р. считается первичной динамич. величиной; требования унитарности и аналитичности М. р. должны служить при этом основой построения полной системы ур-ний, определяющих матрицу S.
В. Б. Берестецкий.
МАХА КОНУС, конич. поверхность, ограничивающая в сверхзвуковом потоке газа область, в к-рой сосредоточены звуковые волны (возмущения), исходящие из точечного источника возмущений А (рис.).
Конус Маха, возникающий от точечного источника возмущений в сверхзвуковом потоке.
В однородном сверхзвуковом потоке газа угол а между образующими М. к. и его осью наз. углом Маха; он связан с Маха числом М соотношением sin =1/M.
МАХА ЧИСЛО [по имени австр. учёного Э. Маха (Е. Mach)] (M-число), характеристика течения газа с большими скоростями, равная отношению скорости течения v к скорости звука а в той же точке потока; М= v/a. Когда тело движется в газе, М. ч. равно отношению скорости тела к скорости звука в этой среде. М. ч. служит одним из осн. подобия критериев в гидроаэромеханике и явл. мерой влияния сжимаемости газа на его движение. При М <<1 газы можно считать несжимаемыми. В воздухе сжимаемость необходимо учитывать при скоростях v>100 м/с, к-рым соответствует число М>0,3. При М<1 течение наз. дозвуковым, при М=1 — звуковым, а при М>1 — сверхзвуковым течением. В области течений с М>5 (т. н. гиперзвуковые течения) становятся существенными физико-хим.
398
превращения в газе, сжимаемом в ударной волне или тормозящемся в пограничном слое.
МАХЕ (единица Махе) (махе, ME), устаревшая внесистемная единица концентрации радиоактивных нуклидов. Была введена австр. физиком Г. Махе (Н. Mache). Иногда применяется в дозиметрии минеральных вод, лечебных грязей и т. п.; в М. указывают концентрацию в воде или в воздухе радона. 1 махе=3,64 эман=3,64•10-10кюри/л=13,47•103 Бк/м3.
МАЯТНИК, твёрдое тело, совершающее под действием приложенных сил колебания около неподвижной точки или вокруг оси. Обычно под М. понимают тело, совершающее колебания под действием силы тяжести; при этом ось М. не должна проходить через центр тяжести тела. Простейший М. состоит из небольшого массивного груза С, подвешенного на нити (или лёгком стержне) длиной l. Если считать нить нерастяжимой и пренебречь размерами груза по сравнению с длиной нити, а массой нити по сравнению
Рис. 1. Маятники: а — круговой математический; б — физический.
с массой груза, то груз на нити можно рассматривать как материальную точку, находящуюся на неизменном расстоянии l от точки подвеса О (рис. 1, а). Такой М. наз. м а т е м а т и ч е с к и м. Если же колеблющееся тело нельзя рассматривать как материальную точку, то М. наз. ф и з и ч е с к и м.
1>1>
Достарыңызбен бөлісу: |