Персоналды басқару ұҒымы, мақсаттары, басқару жүйесінің ҚҰрылымы



бет5/5
Дата08.01.2024
өлшемі1.84 Mb.
#488665
түріПрезентация
1   2   3   4   5
Рефрактометриялық өлшеулер үшін аппаратура

Пайдаланылған әдебиеттер тізімі

  • Урмашев Б.А. Талдаудың физикалық әдістері. Оқу құралы. – Алматы: ССК, 2019. – 156 бет.

  • 2. Б. Я. Пинес. Лекции по структурному анализу : учебное пособие. – Харьков: Изд-во Харьк. Ун-та., 1967. – С. 9-82.
    3. Зайдель А. Н., Островская Г. В., Островский Ю. И. Техника и практика спектроскопии. Серия Физика и техника спектрального анализа. - М : Наука, 1976. – 373 c.
    4. Малышев В. И. Введение в экспериментальную спектроскопию. - М.: Наука,1979. – 300 с.
    5. Рентгенофлуоресцентный анализ. Применение в заводских лабораториях. Сб. науч.трудов / под ред. Х. Эрхардта. – М. : Металлургия, 1985. – 187 с.
    6. Русакок А.А. Рентгенография металлов. – М.: Атомиздат, 1977. – 556 с.
    7. Кустанович И. М. Спектральный анализ. – М. : Высшая школа, 1967. – 241 с.

НАЗАРЛАРЫҢЫЗҒА РАҚМЕТ!

Rakhat.asan.01@mail.ru

8-705-454-68-01


МЕП-23-4НК2 ТОБЫНЫҢ МАГИСТРАНТЫ: АСАН РАХАТ

Достарыңызбен бөлісу:
1   2   3   4   5




©dereksiz.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет