Учебно-методическое пособие для студентов Ижевск 2010 удк


Эмиссионная спектрография



Pdf көрінісі
бет31/49
Дата02.01.2022
өлшемі325.38 Kb.
#453651
түріУчебно-методическое пособие
1   ...   27   28   29   30   31   32   33   34   ...   49
СМЭ механических повреждений

Эмиссионная спектрография основана на испарении объек-

та в дуговом или искровом электрическом разряде, что позволяет 

определить его элементный состав. 

Пламенная фотометрия, основанная на сжигании объектов 

в  высокотемпературном  пламени,  используется  для  выявления 

щелочных и щелочно-земельных металлов.

Атомно-абсорбционная  спектрография  позволяет  опреде-

лить состав объектов по спектрам поглощения. 



Инфракрасная спектроскопия изучает молекулярные спек-

тры  поглощения  различных  веществ.  С  помощью  этого  метода 

можно идентифицировать многие органические соединения.

Выявление мелких осколков стекла:

Факт  выявления  в  области  тела  и  одежды  осколков  стекла 

свидетельствует  о  нанесении  травмы  стеклом  или  орудием  его 

содержащим (в том числе и соответствующими деталями транс-

портных средств). 



Достарыңызбен бөлісу:
1   ...   27   28   29   30   31   32   33   34   ...   49




©dereksiz.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет