Возникновение отказов в электронной аппаратуре носит случайный характер. Следовательно, время безотказной работы есть случайная величина, для описания которой используют разные распределения: Вейбулла, экспоненциальный, Релея, Пуассона.
Отказы в электронной аппаратуре, содержащей большое число однотипных неремонтируемых элементов, достаточно хорошо подчиняются распределению Вейбулла, а вероятность безотказной работы P(t), частота отказов f(t), средняя наработка на отказ Тср, вычисляются по следующим формулам:
(4.30)
(4.31)
(4.32)
где Г - гамма-функция; и b – параметры распределения.
4.5.2. Повышение надёжности электронной аппаратуры резервированием
Резервирование – способ повышения надёжности аппаратуры, заключающийся в дублировании (иногда и многократном) электронной аппаратуры в целом или отдельных её модулей или элементов.
Различают следующие виды резервирования: постоянное (резервные элементы включены вместе с основным и функционируют в тех же режимах); резервирование замещением (обнаружение отказавшего элемента и замена его резервным); скользящее резервирование (любой резервный элемент может замещать любой отказавший).
Если Pc(t) – вероятность безотказной работы системы (модуля), то установка и включение параллельно нескольких таких же систем (модулей) приводит к увеличению результирующей вероятности безотказной работы резервированной системы Ppc(t), которую можно определить из следующей формулы:
(4.33)
где m - число включенных параллельно основной системе (модулю) резервных систем.
4.5.3. Расчёт надёжности электронной аппаратуры
Определив из ТЗ требуемую вероятность безотказной работы аппаратуры, конструктор распределяет эту вероятность по составляющим электронной аппаратуры модулям, подбирает элементы с необходимыми интенсивностями отказов, выявляет потребность и глубину резервирования, принимает меры по защите аппаратуры от воздействий дестабилизирующих факторов.
Расчёт надёжности электронной аппаратуры состоит в определении числовых показателей надёжности P(t) и Тср по известным интенсивностям отказов комплектующих элементов. При этом считается, что, если выход из строя любого элемента приводит к выходу из строя всей электронной аппаратуры, то имеет место последовательное включение элементов. Усреднённые данные по интенсивностям отказов микросхем, электрорадиоэлементов, узлов и электрическим соединениям приведены в таблице №12.
Таблица №12
Интенсивности отказов комплектующих и электрических
соединений
Элемент
|
Интенсивность отказов
λ * 10-6 1/ч
|
Микросхемы в пластмассовом корпусе
Микросхемы в керамическом корпусе
Маломощные транзисторы
Мощные транзисторы
Маломощные диоды
Мощные диоды
Углеродистые резисторы
Проволочные резисторы
Регулируемые резисторы
Конденсаторы танталовые
Конденсаторы электролитические
Кристалл кварца
Переключатели
Реле
Вентиляторы
Трансформаторы
Пайка ручным способом
Пайка автоматическим способом
Разъёмный контакт
Соединение «под винт»
Соединение накруткой
Соединение сваркой
Соединение обжимкой
|
0,1
0,01
0,05
0,5
0,02
0,2
0,01
0,5
2,0
0,02
0,2
0,05
0,2
0,5
2,0
0,5
0,2
0,002
0,05
0,08
0,0012
0,0006
0,006
|
При конструировании необходимы данные об ожидаемых изменениях характеристик элементов в течение всего срока службы электронной аппаратуры. Например, если разрабатывается аппаратура со сроком службы 10 лет, то необходимо предварительно в течение 10 лет, если не используется какой-либо метод ускоренных испытаний, собирать данные об изменении параметров комплектующих элементов, что в общем случае нереально, так как за это время может устареть как элементная база, так и сама разрабатываемая электронная аппаратура.
Поэтому трудно ожидать совпадения реального и рассчитанного поведения системы, но расчёты надёжности необходимо выполнять, так как в ТЗ на разработку всегда указываются требуемые показатели надёжности.
Вероятность безотказной работы системы рассчитывается:
(4.34)
где qi(t) и Pi(t) – соответственно вероятность отказа и вероятность безотказной работы i – го модуля за время t; n – число модулей системы.
Из (4.34) и (4.28) получаем:
(4.35)
где - интенсивность отказов i – го модуля системы.
Модули одного иерархического уровня имеют приблизительно равную надёжность. Тогда для системы из K групп модулей одного уровня
(4.36)
где ni – число модулей i – го уровня иерархии.
Для экспоненциального закона распределения, когда интенсивность отказов можно считать величиной постоянной,
В общем случае надёжность конструкции зависит от соотношения прочности и устойчивости, закладываемых в конструкцию при разработке, к нагрузке, которую приходится выдерживать аппаратуре в процессе эксплуатации. Под прочностью здесь понимается способность аппаратуры выдерживать без разрушений внешние температурные, механические, влажностные и прочие воздействия, под устойчивостью – способность к работе при тех же воздействиях.
Создание аппаратуры без излишних запасов прочности – важная и сложная задача, поскольку конструктор не всегда имеет чёткие количественные параметры внешних воздействий, отсутствуют или имеются неточные математические модели, позволяющие весьма ориентировочно произвести указанную оценку. Это приводит к внесению в конструкцию завышенных запасов прочности и устойчивости, так называемых коэффициентов незнания, уточнение которых – условие успешного обеспечения заданной надёжности при минимальной себестоимости.
Достарыңызбен бөлісу: |