Қолданылуы. Егер сканерлейтін электронды микроскопия қалай түсіндіруге болады өнімнің сыналатын материалында метал беті сияқты бұзылу бөлшектер сыртқы ортаның термопластикалық әсеріне жауап береді, содан кейін электронды микроскопия мұның себебін түсіндіруі мүмкін пайда болады, өйткені материалдың құрылымдық-фазалық жағдайы ықпал етеді.
TЭM-де электронды сәуле орнатылған белгілі бір сипаттамаларға ие болуы керек электрондық көзі де, мылтықтың дизайны да. электронды көз қарқындылық, жарықтық, келісімділік, тұрақтылық. Қарқындылығы мен жарықтығы. Көздің қарқындылығы - уақыт бірлігіне шығарылған электрондар саны, шығарылатын беттің аудан бірлігіне, яғни шығарылатын токтың тығыздығына. Жарықтық - бұл қатты бұрыштың бірлігіне келетін ток тығыздығы. Жарықтық мәні өте маңызды
TЭM және SЭM-де микроанализ, мұнда өте жұқа сәулелер қолданылады, бірақ онша маңызды емес стандартты TЭM.
Жарықтық неғұрлым жоғары болса, үлгідегі ток тығыздығы соғұрлым көп болады ақпарат алуға болады, бірақ радиацияға сезімтал үлгілерде радиациялық зақым көп болады.
13
1.4 Сканерлеуші электронды микроскоп
Растрлық электрондық микроскоп (РЭМ) үлгінің бетіндегі суретті, сонымен қатар құрамы туралы информацияны алуға арналған жоғары (0,4 нанометрге дейін) кең істіктік рұқсаты бар электронды микроскоп класына жататын қондырғы. Бұл микроскоп электрондық микроскоптың бір түрі, зерттелетін бетті барлап байқау үшін оны фокусталған электр шоғы арқылы сканерлейді. Зерттелетін заттың электрондық шоқ тарының әсерлесу принципына негізделген Сканерлеуші электронды микроскоп.
Сканирлеуші электрондық микроскоп биік кеңістіктің (0,4 нм дейін) рұқсатымен объектінің бет жағының бейнесін алу үшін қолайлы және құрамы туралы ақпарат береді. Электрондық шоқтардың зерттелетін объектімен өзара әсерлесуіне негізделген. Қазіргі уақытта сканирлейтін электрондық микроскоп үлкен диапозонда 10 краттан кратка дейін үлкейтеді. Ол оптикалық микроскоп қақарағанда 500 есе жақсы үлкейтеді.
Суретті қарау үшін әртүрлі сигналдарды детектірлеуді пайдаланады: екінші электрондар теріс электондар, рентгендік сәуле шығару үлгі арқылы өтетін ток қолданылады. Сканирлеуші электрондық микроскоп биік кеңістіктің (0,4 нм дейін) рұқсатымен объектінің бет жағының бейнесін алу үшін қолайлы және құрамы туралы ақпарат береді. Сканерлеуші электрондық микроскоптың негізгі қызметі – зерттелініп от қан үлгінің улкейтілген суретін әртүрлі сигналдарда алу.
14
Қорытынды
Микроскоптың ғылыми зерттеулерге келуі ғылымның әр түрлі бағыттарын ілгерілетудің маңызды элементтері туралы жаңалықтар мен жаңа көзқарастарға әкелді.
Бактериялар сияқты жасушалар мен микроорганизмдерді көру және жіктеу - микроскоптың арқасында мүмкін болған ең танымал жетістіктердің бірі.
500 жылдан астам уақыт бұрын алғашқы нұсқаларынан бастап, микроскоп өзінің негізгі жұмыс тұжырымдамасын сақтайды, дегенмен оның өнімділігі мен мамандандырылған мақсаттары бүгінгі күнге дейін өзгеріп, дамып келеді.
Электрондық микроскоп алдыңғы микроскоптармен салыстырғанда категорияны өзі көрсетеді, өйткені ол үлгіні бейнелеуге мүмкіндік беретін негізгі физикалық принципті өзгертеді: жарық.Электрондық микроскоп көзге көрінетін жарықты жарықтандыру көзі ретінде электрондармен алмастырады. Электрондарды пайдалану сандық бейнені тудырады, бұл оптикалық компоненттерге қарағанда үлгіні ұлғайтуға мүмкіндік береді.
Алайда үлкен үлкейту үлгінің кескінінде сенімділікті жоғалтуы мүмкін. Ол негізінен микроорганикалық үлгілердің ультра құрылымын зерттеу үшін қолданылады; әдеттегі микроскоптарда жоқ сыйымдылық.Алғашқы электронды микроскопты 1926 жылы Хан Буш жасаған
15
Пайдаланған әдебиеттер
(2010). Микроскоптың тарихы: history-of-the-microscope.org сайтынан алынды
Кілттік. (с.ф.). Микроскоптар негіздері. Keyence - Биологиялық микроскоптың сайтынан алынды: keyence.com
Микробунтер. (с.ф.). Теория. Microbehunter - әуесқой микроскопияның ресурсы: microbehunter.com
Уильямс, Д.Б. Және Картер, С.Б. (с.ф.). Трансмиссиялық электронды микроскопия. Нью-Йорк: Пленумдық баспасөз.
16
Достарыңызбен бөлісу: |