Орындаған: Серикбол Алтынай
жүктеу/скачать 1.21 Mb.
|
- Бұл бет үшін навигация:
- TэM әдісі келесі мәселелерді шешуге мүмкіндік береді
- ТЭм жұмыс реті
Орындаған: Серикбол АлтынайТрансмиссиялық электронды микроскопия Трансмиссиялық электронды микроскопия (ПЭМ) әдісі үлгінің көлемінде де, оның беткі аймағында да материалдың құрылымын сипаттау үшін қолданылады.Трансмиссиялық электронды микроскопия (ПЭМ) әдісі үлгінің көлемінде де, оның беткі аймағында да материалдың құрылымын сипаттау үшін қолданылады.Бұл микроскоп үлгі арқылы электрондардың сәулесін өткізеді. Осылайша, бұл үлгінің ішкі құрылымының бейнесін жасайды. Сонымен қатар, электрондар мен үлгі атомдарының өзара әрекеттесуіне байланысты жасалады. Сонымен қатар, суретті флуоресцентті экранда немесе фотофильмде алуға болады.Электрондық толқын ұзындығы жарыққа қарағанда қысқа болғандықтан, TEM ең озық жарық-оптикалық микроскоптың рұқсатынан ондаған мың есе жоғары үлгілерді зерттеуге мүмкіндік береді. TEM көмегімен объектілерді атомдық деңгейде де зерттеуге болады.Қазіргі ПЭМ-де үлгілердің элементтік құрамын, кристалдардың бағдарын, электрондардың фазалық ығысуын және т. б. зерттеуге мүмкіндік беретін жұмыс режимдері бар.TэM әдісі келесі мәселелерді шешуге мүмкіндік береді:
Электрондық-оптикалық бағандағы электронды сәуленің жолымен трансмиссиялық электронды микроскопты келесі негізгі компоненттерге бөлуге болады:Электрондық-оптикалық бағандағы электронды сәуленің жолымен трансмиссиялық электронды микроскопты келесі негізгі компоненттерге бөлуге болады:
ТЭм жұмыс реті
SEM электронды микроскопты сканерлеуге арналған, ал TEM - трансмиссиялық электронды микроскопқа арналған. SEM мен TEM арасындағы негізгі айырмашылық мынада: SEM шағылысқан электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды, ал TEM берілген электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды. SEM үлгі құрылымын талдайды, ал TEM ішкі құрылымды талдайды. SEM мен TEM арасындағы тағы бір айырмашылық - олардың шешімі SEM әдісінің шешімі шамамен 0,4 нанометрге тең, ал TEM-ге шамамен 0,5 стром береді SEM электронды микроскопты сканерлеуге арналған, ал TEM - трансмиссиялық электронды микроскопқа арналған. SEM мен TEM арасындағы негізгі айырмашылық мынада: SEM шағылысқан электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды, ал TEM берілген электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды.SEM электронды микроскопты сканерлеуге арналған, ал TEM - трансмиссиялық электронды микроскопқа арналған. SEM мен TEM арасындағы негізгі айырмашылық мынада: SEM шағылысқан электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды, ал TEM берілген электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды. SEM үлгі құрылымын талдайды, ал TEM ішкі құрылымды талдайды. SEM мен TEM арасындағы тағы бір айырмашылық - олардың шешімі SEM әдісінің шешімі шамамен 0,4 нанометрге тең, ал TEM-ге шамамен 0,5 стром береді SEM электронды микроскопты сканерлеуге арналған, ал TEM - трансмиссиялық электронды микроскопқа арналған. SEM мен TEM арасындағы негізгі айырмашылық мынада: SEM шағылысқан электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды, ал TEM берілген электрондарды анықтау арқылы кескін жасайды.SEM мен TEM арасындағы айырмашылық неде? жүктеу/скачать 1.21 Mb. Достарыңызбен бөлісу:
|