Академия информациологической и прикладной уфологии

Теоретические и экспериментальные исследования в данной области ранее проводились Н. Тесла, П.Л. Капицей, А.Ф. Охатриным, А.К. Геворковым, Г.Ф. Савельевым, Г.С. Ляпиным, и рядом других исследователей [122].

Основные концепции микролептонной теории и свойств микролептонов приведены А.Ф. Охатриным в статье «Микрокластеры и сверхлегкие частицы» и в статье А.Ф. Охатрина и В.Ю. Татур в сб. «Непериодические быстро протекающие явления в окружающей среде» [8, 9].

Отсутствие электрического заряда у микролептона подтверждено ранее на различных установках П.Л. Капицей, А.Ф. Охатриным, Г.С. Ляпиным, А.К. Геворковым и привели к термину «нейтральные частицы».

Наличие магнитного момента исследовалось В.Н. Быковым, Г.Ф. Савельевым и О.В. Трещиловой [1121] в государственном научном центре «Интерфизика» Минобразования РФ.

В основе микролептонной технологии лежит фундаментальный факт, что все физические объекты подобно электромагнитному полю, имеют собственные микролептонные поля, возникающие при взаимодействии легких элементарных частиц – микролептонов.

Все физические объекты обладают собственными микролептонными полями, так же, как и все физические объекты, обладают гравитационными и электромагнитными полями.

Авторы разработали метод, позволяющий на основе свойств микролептонов осуществить фотографирование невидимой части изображения и увеличения разрешающей способности фотометрической аппаратуры в миллионы раз. Результаты измерений осуществленных этим методом приведены в данной работе.

Пространственное распределение интенсивности собственных микролептонных полей физических тел определяется не только их химическим составом, распределением химических элементов в объеме тел, формой тел, но и характеризуется спектром пространственных частот. Отсюда, при определенных условиях открывается возможность «записывать» на различные носители – прежде всего на фотопленку и в память фотоаппаратов (обычных, цифровых, космических и др.) – собственные микролептонные поля и излучения веществ.

При фотографировании объекта на снимок попадает и регистрируется не только видимое изображение, но и невидимое микролептонное излучение различных объектов на поверхности и внутри.

Речь идёт не только о невидимом, но и видимом изображении.

Из хорошо изученных представлений электромагнитное излучение имеет спектр как видимый (воспринимаемый живым глазом ), так и невидимый регистрируемый различными приборами. (инфракрасный свет, ультрафиолетовый, рентгеновский и др.)

Микролептонный свет, также имеет достаточно широкий диапазон частот.

В процессе специальной обработки это невидимое микролептонное изображение фильтруется специальным микролептонным фильтром и переводится в оптический диапазон, т.е. становиться видимым. Существует много способов превращения невидимого в видимое. Например, просмотр в негативе, поляризация света, затенение невидимого, окрашивание невидимого и др. Разработаны специальные микролептонные фильтры для определения местонахождения нефти, воды, золота, радиоактивных веществ, а также различных видов излучения (ультрафиолетового, жесткого и мягкого рентгеновского излучения и др.).

Принимая концепцию микролептона, разработан метод регистрации микролептонных полей, позволяющий на основе свойств микролептонов экспериментально осуществлять фоторегистрацию невидимой части изображения.

Разрешающая способность и соответственно чувствительность фотометрической аппаратуры обратно пропорциональна длине волны регистрируемого «микролептонного света», что по сравнению с видимым электромагнитным светом выше в миллионы раз. Решена задача обращения невидимого спектра в видимое изображение.

В 20022006 гг. в лаборатории микролептонных исследований проведен ряд экспериментов по регистрации и обнаружению микролептонных полей, возникающих в ряде физических процессов, (кипение, кавитация, сублимация, α- излучение, β- излучение, γ - излучение, n0 -излучение, ультрафиолетовое излучение, ударные, разрывные напряжения, напряжения в трещинах изломах и др.). Характерным для этих процессов является высвобождение микролептонов, их выброс и образованию микролептоных полей [1222].

Анализ регистрации этих полей позволяет исследовать физическую картину различных процессов и явлений материального мира и полевых характеристик изучаемых явлений.

На основе данных полученных при регистрации и измерении свойств микролептонных полей определен спектр задач решаемых с использованием свойств микролептонов:

• 
  регистрация известных физических полей и их взаимодействий;
  
• 
  микролептонная спектрометрия;
  
• 
  обнаружение аномальных зон природного и техногенного происхождения;
  

• 
  поиск и определение различных веществ и их соединений при решении задач геологоразведки с помощью имеющихся методов регистрации микролептонных полей и их взаимодействия;
  

• 
  прогнозирование природных катаклизмов (землетрясений, взрывов наводнений, извержения вулканов);
  
• 
  трансмутация одних веществ и их соединений в другие на основе экологически чистых технологий и получения стабильного состояния вещества (получение вещества с заданными свойствами, стабильных изотопов и др.);
  
• 
  изменение физических, химических, механических свойств материалов;
  
• 
  другие применения.
  

Особый интерес представляет исследование космоснимков участков Вселенной полученных на телескопах, расположенных на космических станциях. При получении таких снимков отсутствуют помехи, возникающие при съемках на земле. Отсутствие атмосферы, облаков, пыли, влаги и др.

Характерно, что оптические устройства на снимках регистрируют как электромагнитное, так микролептонное излучение. В связи с этим проведен эксперимент на сравнение скорости распространения, как электромагнитного излучения (электромагнитного света), так и микролептонного излучения (микролептонного света)

Из снимка на рис. 1 видно, что каждая галактика излучает как электромагнитный свет, регистрируемый на снимке, так и еще одно изображение той же галактики в микролептонном свете. По проведенным приближенным расчетам разница между изображениями насчитывает десятки, а то и более миллионов световых лет. В связи с этим кажется сомнительным утверждение о существовании двойных звезд. Далее мы приведем ряд снимков различных галактик. На всех снимках очень чётко выражены парные изображения звёзд и галактик.

Даже поверхностное рассмотрение снимка даёт основание сделать вывод о структуре элементов, входящих в разные Галактики. На снимках видно, также видимое микролептонное изображение. Проверка показала, что спектр микролептонного света в приведенных снимках характеризуется определенными частотами, которые в нашем случае видимы невооружённым глазом (см. рис. 2). Если после проверки изображения на наличие микролептонных полей оказывается, что видимое микролептонное изображение дает больше информации о микролептонном поле, то естественно анализ этой информации нужно проводить на видимом изображении, но с обязательным микролептонным контролем.

Рис. 2. Снимок вселенной после обработки микролептонным методом

Анализ информации содержащейся на космоснимке дает возможность с использованием микролептонных методов выделить на фотографии фрагменты, дающие интересную информацию о структуре Галактик и пространства между ними. Микролептонная фотография регистрирует наличие между Галактиками достаточно плотного вещества обжимающего Галактики. Это даёт основание считать, что плотность Галактик значительно ниже, чем окружающего их пространства. Можно также с достаточной точностью определить границы Галактик и некоторых систем, входящих в них определить траекторию перемещения и вращения изучаемых объектов.

Учитывая плотность межгалактического пространства можно предположить, что космические путешествия на существующих сегодня космических кораблях за пределы Галактики просто не реальны, а такие методы перемещения как телепортация из одной Галактики в другую пока имеют право на существование, как мечта на далекое будущее. Это подтверждает также микролептонное исследование фрагментов вселенной в виде Галактик или их пересекающихся скоплений.

Расчет, произведенный по снимку на рис. 1 показывает, что одновременно на снимок попало изображение света, который достиг фотоаппарата за восемь минут и двенадцать секунд. Одновременно на снимке изображение Солнца, которое за это время переместилось в пространстве.

Рис. 4. Микролептонное изображение Солнца и его окружения

Рис. 5. Космоснимок планетарной туманности Мензель

Рис. 6. Космоснимок сверхактивной Галактики. Южное созвездие Циркуль

Для проверки полученных результатов исследовались другие снимки, сделанные на космических станциях и телескопах. На всех снимках повторяются двойные изображения подтверждающие наличие микролептонного изображения и распространение микролептонного света.

Рис. 7. Космоснимок Галактики NCC2207 и Галактики IC2163

Скорость распространения микролептонных волн значительно в миллионы раз превышает скорость распространения электромагнитных волн.

Подтверждена волновая структура потока частиц, омывающих Солнце.

На снимке Галактик и Солнца зарегистрированы, как электромагнитное изображение звёзд и планет, так еще одно их изображение в микролептонном свете, позволяющее регистрировать перемещение и вращение планет и галактик в пространстве.

На всех снимках очень чётко выражены парные изображения. В связи с этим кажется сомнительным утверждение о существовании двойных звезд.

Материалы исследований докладывались на международном симпозиуме по безопасности ядерной энергетики, физическом семинаре в Политехническом музее, По результатам теоретических и экспериментальных работ имеются публикации, авторские свидетельства и патенты.

Методы использования микролептонных процессов апробированы на реальных конкретных работах по заказам и договорам различных организаций и ведомств (Ямбургское месторождение, МАИ, МЭИ и др.)

Литература

2. Лаврентьев М., Гусев В. А и др. О регистрации истинного положения солнца. ДАН, 1990, 315, 2. С. 368.

3. Охатрин А.Ф., Макрокластеры и сверхлегкие частицы. ДАН, 1989, 304, 4. С. 866.

4. Охатрин А.Ф., Татур В.Ю., Микролептонная концепция. В сб. Непериодические быстро протекающие явления в окружающей среде. Часть 1. Томск, 1988, С. 32.

7. Горбатых В.П., Савельев Г.Ф., Савельев Г.С., «Предложения по использованию микролептонных методов в поиске полезных ископаемых, мониторинге катастроф, регистрации очагов вредных веществ, прогнозировании выхода из строя опасных промышленных объектов и ликвидации вредных и радиоактивных веществ на территории России». Доклад на международной конференции по безопасности атомной энергетики. Батилиман, 2009 г.