Мероприятие проводится при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, Проект №15-02-20248 программа
жүктеу/скачать 385.45 Kb.
|
| Научный совет РАН по электронной микроскопии
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова Российской академии наук Мероприятие проводится при финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований, Проект № 15-02-20248 ПРОГРАММА XIX Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твердых тел и 3-й Школы молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов» РЭМ – 2015 г. Черноголовка, 1 – 4 июня 2015г. План проведения Симпозиума и Школы 1 июня (Понедельник) 10.00 – 10.10 Открытие Школы 10.10 – 13.10 Лекции Школы 13.10 – 14.10 Обед 14.10 – 18.20 Лекции Школы 19.00 Welcome Party Sponsored by FEI and Technoinfo (Для участников Школы и Симпозиума) 2 июня (Вторник) 9.30 – 9.35 Открытие Симпозиума 9.35 – 13.25 Заседания Симпозиума 13.25 – 14.30 Обед 14.30 – 16.35 Заседания Симпозиума 16.35 – 19.00 Сообщения о новых разработках оборудования 17.30 – 19.00 Стендовая сессия для секций I, II, III, V 3 июня (Среда) 9.00 – 14.00 Заседания Симпозиума (физика) 14.00 – 15.30 Обед (физика) 15.30 – 18.00 Стендовая сессия для секции IV (физика) 11.00 – 13.00 Стендовая сессия для секции VI (биология) 13.00 – 14.30 Обед (биология) 14.30 – 18.00 Заседания Симпозиума (биология) 4 июня (Четверг) 9.00 – 13.10 Заcедания Симпозиума 13.10 Закрытие Симпозиума 3-я Школа молодых ученых «Современные методы электронной и зондовой микроскопии в исследованиях наноструктур и наноматериалов» В рамках XIX Российского симпозиума по растровой электронной микроскопии и аналитическим методам исследования твёрдых тел Программа лекций 1 июня, понедельник 10.00 – 18.20 10.00 – 10.10 Приветственное слово к участникам: Васильев Александр Леонидович Якимов Евгений Борисович
14.10 – 14.50 Суворова Елена Игоревна ИК РАН Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия для исследования биоматериалов 14.50 – 15.25 Боргард Николай Иванович МИЭТ Применение методов сфокусированного ионного пучка в исследованиях материалов 15.25 – 16.00 Ernst Jan Vesseur FEI, The Netherlands Applications of DualBeam: sample preparation, 3D imaging and nanoprototyping 16.00 – 16.30 Пашаев Эльхан Мехралиевич НИЦ «Курчатовский институт» Рентгеновская диагностика многослойных наноразмерных гетероструктур Coffee brake 16.30-16.50 16.50 – 17.20 Полилов Алексей Алексеевич МГУ им. М.В. Ломоносова, Биологический факультет Методы трехмерной электронной микроскопии в изучение коннектомов 17.20 – 17.50 Незлин Леонид Павлович Институт биологии развития им. Н.К. Кольцова Методы сверхразрешения в флуоресцентной и конфокальной микроскопии 17.50 – 18.20 Михуткин Алексей Александрович НИЦ «Курчатовский институт» Исследование пространственной микроструктуры пористых материалов методом трехмерной реконструкции по данным ФИП/РЭМ 19.00 Welcome Party Sponsored by FEI and Technoinfo РЭМ – 2015 ПРОГРАММА УСТНЫХ ДОКЛАДОВ 2 июня, вторник 9.30 – 13.25 Открытие Симпозиума Приветственное слово к участникам: Н.А. Киселёв Е.Б. Якимов
Магнитно-силовая микроскопия планарных ферромагнитных наноструктур 20 мин. Г.М. Михайлов, Л.А. Фомин, И.В. Маликов, А.В. Черных Зондовая микроскопия эпитаксиальных структур из металлов: морфология и магнитные свойства 20 мин. А.Н. Чайка, В.Н. Семенов, С.С. Назин, Н.Н. Орлова, В.Ю. Аристов, С.И. Божко, O. Lübben, S.A. Krasnikov, B.E. Murphy, K. Radican, I.V. Shvets, V. Grushko, A. Chepugov, N. Novikov, E. Mitskevich, O. Lysenko Роль величины туннельного промежутка и орбитальной структуры зонда в сканирующей туннельной микроскопии атомарного разрешения 20 мин. Перерыв 20 мин. (11.20 – 11.40) А.Г. Темирязев Силовая и электрическая нанолитография с помощью сканирующего зондового микроскопа 20 мин.
Измерение коэрцитивного поля и локальной проводимости тонких сегнетоэлектрических пленок Pb(Zr, Ti)O3 с помощью методов сканирующей зондовой микроскопии 20 мин. Е.Б. Якимов Модификация метода дифракции обратно рассеянных электронов (EBSD) 20 мин. В.Я. Иванов Обзор математических моделей электронной оптики изображающих систем 20 мин. В.В. Казьмирук, С.П. Червонобродов, И.В. Яминский Гибридный электронно-зондовый 3D нанопринтер – наноскоп 20 мин. В.Д. Гелевер, Е.Ю. Усачев, А.А. Манушкин Режимы гибридного наноскопа для проведения комплексных исследований 20 мин. Продолжение 16.35 – 19.00 Информационные сообщения представителей фирм о новых разработках диагностического и измерительного оборудования 17.30 – 19.00 Стендовая сессия для секций I, II, III, V 3 июня, среда 9.00 – 14.00 В.Ю. Михайловский, Ю.В. Петров, О.Ф. Вывенко Рассеяние электронов металлическими наночастицами в низковольтной растровой электронной микроскопии 20 мин. П.С. Вергелес, Е.Б. Якимов Стимулированное облучением низкоэнергетичным электронным пучком движение дислокаций в плоскости (0001) в латерально-зарощенных пленках GaN 20 мин. Э.И. Рау, А.В. Гостев, С.А. Дицман, С.В. Зайцев, С.Ю. Купреенко, А.А. Татаринцев, И.О. Толстов Новые возможности и перспективы методов электронной спектроскопии в сканирующем электронном микроскопе 20 мин.
Современные методы растровой ионной микроскопии для создания оптических метаматериалов и плазмонных наноструктур 20 мин. Л.С. Коханчик, Р.В. Гайнутдинов, Т.Р. Волк Некоторые аспекты зарядки сегнетоэлектрика LiNbO3, обнаруженные при записи доменов электронным лучом в РЭМ 20 мин. Перерыв 20 мин. (11.05 – 11.25) С.А. Гусев, Н.С. Гусев, Ю.В. Петров, Н.В. Смирнов, Д. А. Татарский Модификация металлических наноструктур с помощью ионных пучков 20 мин. Н.В. Садовская, С.Ю. Обвинцев, М.А. Арсентьев, С.А. Хатипов Применение методов ВРЭМ и РСМА для контроля структурообразования в композитах ПТФЭ при воздействии гамма-излучения выше температуры плавления кристаллитов 20 мин. Т.Е. Суханова, М.Э. Вылегжанина, А.А. Кутин, В.А. Петрова, Ю.А. Скорик, А. Гонцу, Т. Лупашку Растровая и атомно-силовая микроскопия наноструктурированных материалов и нанокомпозитов на основе природных полимеров 20 мин.
Ш.С. Кудаева, Е.Д. Скильская, К.О. Шишканова Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии для изучения продуктов кайнозойской вулканической и гидротермальной деятельности Камчатки 20 мин. А.В. Анкудинов, Б.О. Щербин Статическая и динамическая атомно-силовая микроскопия наномостиков хризотила 20 мин. 14.00 – 15.30 Обед (физика) 15.30 – 18.00 Стендовая сессия для секции IV (физика) 3 июня, среда 11.00 – 18.00 11.00 – 13.00 Стендовая сессия для секции VI (биология) 13.00 – 14.30 Обед (биология) 14.30 – 18.00 Устные доклады (биология) Д.В. Багров, Ю.С. Газизова, В.В. Подгорский, И.П. Удовиченко, Д.В. Клинов Морфология и агрегация самоорганизующихся пептидов RADA-16
Исследование деформаций адгезионных микрощетинок геккона токи (Gekko gecko L.)
А.Д. Протопопова, Н.А. Баринов, Е.Г. Завьялова, А.М. Копылов, Д.В. Клинов Роль αС областей фибриногена в образовании фибриновых волокон по данным атомно-силовой микроскопии высокого разрешения
Применение сканирующей электронной микроскопии в гидробиологии: проблемы и перспективы
В.И. Орлов, Н.А. Ярыкин, Е.Б. Якимов Исследование методами EBIC, LBIC и оптической микроскопии дефектов в плоскости скольжения дислокаций в кремнии 20 мин.
Растровая электронная микроскопия пористого кремния, полученного методом ионной имплантации 20 мин. В.С. Сергевнин, Д.С. Белов, И.В. Блинков, А.О. Волхонский Модифицирующее влияние Ni и Mo на структуру износостойких нанокристаллических покрытий на основе TiN 20 мин. В.Б. Тверской Исследование в РЭМ фторидных монокристаллов, обнаруживающих коротковолновую люминесценцию 20 мин. Перерыв 20 мин. (11.05 – 11.25) Л.В. Соколов Исследование переходных областей КНИ гетероструктуры монокремний-стекловидный диэлектрик-монокремний МЭМС тензорезистивного преобразователя давления методами растровой электронной и зондовой микроскопии 20 мин. М.М. Кантор, К.Г. Воркачев Возможности методов дифракции обратно отраженных электронов для исследования микроструктуры ферритно-перлитных сталей С.И. Божко, Е.А. Левченко Исследование ультратонких пленок C60 при помощи сканирующей туннельной микроскопии 20 мин. О.Ю. Рогов, В.В. Артемов, М.В. Горкунов Ионная литография единичных плазмонных наноструктур в тонких слоях благородных металлов 20 мин. 13.10 Закрытие Симпозиума ПРОГРАММА Стендовых СЕССИЙ 2 июня, вторник 17.30 – 19.00 Секция I. Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений Исследование влияния толщины оксидных наноразмерных структур титана на их мемристорные свойства В.И. Авилов, В.А. Смирнов, О.Г. Цуканова
О.А. Агеев, О.И. Ильин, А.А. Федотов, Н.Н. Рудык Меры для калибровки растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений В.П. Гавриленко, А.В. Заблоцкий, А.А. Кузин, А.Ю. Кузин, В.Б. Митюхляев, П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов
В.С. Плотников Устройство манипулирования микрообъектами для электронной микроскопии А.В. Иржак, В.А. Дикан, А.В. Маширов, Д.И. Захаров, В.С. Афонина, П.В. Мазаев, А.М. Жихарев, В.С. Калашников, В.В. Коледов, Н.Н. Ситников, А.В. Шеляков, В.Г. Шавров Оптимизация процесса совмещения в технологии электронно-лучевой литографии наноструктур В.В. Казьмирук, М.А. Князев, И.Г. Курганов, Н.Н. Осипов, А.А. Подкопаев, Т.Н. Савицкая Оптимизация электростатического отклонения пучка в низковольтной электронно-зондовой системе для литографии с полем сканирования 200x200 мкм2 В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, Т.Н. Савицкая Обработка РЭМ изображений с использованием морфологической и байесовской фильтрации Т.С. Кириллова, В.С. Плотников, С.В. Полищук, Е.Б. Модин, К.А. Петров Моделирование изображений длинноволновых неоднородностей в аморфных сплавах К.А. Петров, В.С. Плотников, С.В. Полищук, Т.С. Кириллова Анализ сеточных структур на РЭМ-изображениях С.В. Полищук, К.А. Петров, Т.С. Кириллова, Е.Б. Модин Аналитическое описание диаграмм эмиттанса и распределение плотности тока в пучке О.Д. Потапкин Вторичные электроны в низковольтной установке электронно-лучевой литографии О.Д. Потапкин, А.А.Мельников Эквивалентный цилиндр 2 О.Д. Потапкин 2 июня, вторник 17.30 – 19.00 Секция II. Растровая электронная, растровая просвечивающая электронная, ионная микроскопия, аналитические и дифракционные методы Применение фокусированного ионного пучка для манипуляций с нанопроволоками Р.Л. Волков, Н.И. Боргардт, Е.Б. Гордон, В.Л. Гуртовой Микропластическая деформация кремния вблизи перехода пластичность-хрупкость. РЭМ и АСМ анализ структуры и электрических свойств дефектов В.Г. Еременко, П.С. Вергелес Визуализация подповерхностных наноструктур в РЭМ и определение их положения в глубине образца Г.С. Жданов, М.С.Ложкин Метод наведенного тока в исследованиях полупроводниковых приборов большой мощности В.А. Злобин Исследование формирования сигнала, образованного истинно вторичными электронами, при низковольтном режиме работы РЭМ В.В. Казьмирук, И.Г. Курганов, А.А. Подкопаев, Т.Н. Савицкая Исследования динамики формирования пленок ЕuО на (001) Si методом ПРЭМ К.Г. Каратеева, Д.В.Аверьеянов, И.А. Каратеев, Ю.Г. Садофьев, А.М. Токмачев, В.Г. Сторчак, А.Л. Васильев РЭМ анализ композиционных тонких пленок на основе анизотропных нанопорошков металлов В.И. Кулинич, В.В. Коломиец, В.В. Найден, Е.И. Бубликов, Е.Г.Мунтяну Морфология и структура модифицированной поверхности пленки SnO2 методом вакуумной конденсации Ag, Au и Pd C.Б. Кущев, А.А. Синельников, С.А. Солдатенко, С.В. Рябцев, М.А. Босых, Е.С. Клюшникова, А.А. Репкина
Ю.В. Ларионов Зависимость контаминации образца в высоковакуумном РЭМ от режима сканирования Ю.В. Ларионов Новая фундаментальная матричная поправка для количественного рентгеноспектрального микроанализа Н.Н. Михеев Определение диффузионной длины и времени жизни неосновных носителей заряда в нитриде галлия по зависимости интенсивности катодолюминесценции от энергии электронов пучка Н.Н. Михеев, Н.А. Никифорова, М.А. Степович, S. Bauer, C. Grund, J. Helbing, M. Hocker, K. Thonke, I. Tischer Соотношение плазменных и одноэлектронных потерь энергии для быстрых электронов, прошедших тонкую пленку вещества Н.Н. Михеев Исследование влияния температурного отжига in-situ на микроструктуру ленты NbTi методами ПРЭМ А.В. Овчаров, И.А. Каратеев, К.Г. Каратеева, М.Ю. Пресняков, В.В. Гурьев, С.В. Шавкин, В.С. Круглов, А.Л. Васильев Исследование введенных при деформации индентором дефектов упаковки в 4H-SiC В.И. Орлов, Е.Б. Якимов Тестирование полупроводниковых преобразователей бета-излучения с помощью РЭМ М.А. Поликарпов, В.Я. Панченко, Е.Б. Якимов Структура и состав многослойных пленок Fe/Si Е.В. Пустовалов, А.Л. Чувилин, А.С. Гуральник, Е.Б Модин, А.В. Кириллов, В.В. Ткачев, В.С. Плотников, С.В. Ваванова, Н.Г. Галкин, Ko-Wei Lin Использование моделей спектров вторичной рентгеновской флуоресценции для определения условий измерений в рентгеноспектральных методах анализа вещества А.В. Романов, М.А. Степович, М.Н. Филиппов Моделирование прямоугольных углублений, формируемых фокусированным ионным пучком А.В. Румянцев, Н.И. Боргардт Автоэмиссионные катоды на основе углеродных нанотрубок и металлических нанозондов Н.Н. Русяев, Д.А. Галимзянов О возможности использования модифицированного метода наименьших квадратов для расчета пространственного распределения неосновных носителей заряда, генерированных электронным зондом в полупроводнике Е.В. Серегина, М.А. Степович, А.М. Макаренков Исследования InAlAs/InGaAs/InAlAs HEMT-гетероструктур на подложках InP методами просвечивающей растровой электронной микроскопии И.Н. Трунькин, М.Ю. Пресняков, Г.Б. Галиев, Е.А. Климов, П.П. Мальцев, С.С. Пушкарёв, А.Л. Васильев
Е.Б. Якимов 2 июня, вторник 17.30 – 19.00 Секция III. Сканирующая зондовая микроскопия и зондовая нанолитография Исследование фазового состава и доменной структуры керамик BixFe1-xO3 методами микроскопии пьезоэлектрического отклика и дифракции обратно-рассеянных электронов Д.О. Аликин, А.П. Турыгин, Д.С. Чезганов, J.B. Walker, T. Rojac, В.Я. Шур, А.Л. Холкин Исследование морфологии рельефа нанопокрытия серебра на слюде и измерение вольт-амперных характеристик А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков, Е.А. Воронова, Н.В. Новожилов, О.В. Михайлова Зарядовые состояния поверхности сегнетомягких материалов Е.В. Барабанова, О.В. Малышкина, Г.М. Акбаева Атомно-силовая микроскопия пленок фуллерит-алюминий, подвергнутых термическому воздействию Л.В. Баран Исследование пористой структуры материалов на основе кремния и диоксида кремния А.О. Белорус, Е.В. Мараева, С.С. Налимова, Ю.М. Спивак АСМ-исследование движения стенок сегнетоэлектрических доменов под воздействием температурных и электрических полей Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов, К.Л. Сорокина, А.Л. Толстихина Исследование 1D и 2D- доменных структур на неполярной поверхности ниобата бария – стронция при записи в поле атомно-силового микроскопа Я.В. Боднарчук, Р.В. Гайнутдинов, Т.Р. Волк Определение проводимости и положения уровня Ферми в индивидуальных углеродных нанотрубках методом электростатической силовой микроскопии В.В. Болотов, Н.А. Давлеткильдеев, Д.В. Стецько, Ю.А. Стенькин Структурообразование в ЛБ пленках преполимера полиимида Р.В. Гайнутдинов, А.Л. Толстихина, Н.Д. Степина, В.П. Склизкова, В.В. Кудрявцев Эффект интерференции излучения полупроводникового ИК-лазера при взаимодействии с зондом атомно-силового микроскопа М.С. Дунаевский, П.А. Алексеев, А.А. Донцов, А.М. Монахов, A. Baranov Фотовольтаический эффект в наноразмерных пленках BaTiO3 А.В. Зенкевич, Ю.А. Матвеев, К.Ю. Максимова, Р.В. Гайнутдинов, А.Л. Толстихина, В.М. Фридкин
Д.Д. Карамов, В.М. Корнилов, А.Н. Лачинов Формирование наноразмерных структур для зондовой нанодиагностики методом фокусированных ионных пучков А.С. Коломийцев, А.Л. Громов, А.А. Шемерянкин Синтез и исследование морфологии, структуры и спектральных свойств тонкопленочных полимерных нанокомпозитов ППК+S Е.П. Криничная, О.П. Иванова, С.А. Озерин, С.А. Завьялов, Т.С. Журавлева Определение износа методом атомно-силовой микроскопии Т.А. Кузнецова, С.А. Чижик, Т.И. Ширяева Периодические изменения латеральных размеров элементарных ячеек на СТМ-изображениях пиролитического графита Р.В. Лапшин Улучшенная аппроксимирующая модель петли гистерезиса для линеаризации пьезосканера зондового микроскопа Р.В. Лапшин Исследование морфологии поверхности эластомеров методами электронной и зондовой микроскопии Т.И. Муравьёва, О.О. Столярова, А.В. Морозов, Р.В. Гайнутдинов, Д.Л .Загорский Оценка влияния размеров зонда на параметры морфологии пленок кремния с полусферическими зернами (HSG-Si), получаемые методом атомно-силовой микроскопии А.В. Новак, В.Р.Новак Изучение эволюции морфологии поверхности при росте пленок плазмохимического нитрида кремния посредством атомно-силовой микроскопии А.В. Новак, В.Р.Новак АСМ- и диэлектрические исследования предпереходной динамики доменной структуры Г.И. Овчинникова, И.Ю. Полякова, А.П. Еремеев, Е.С. Иванова, Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов, А.Л. Толстихина
А.М. Пашаев, Б.Г. Тагиев, Р.А. Ибрагимов, А.А. Сафарзаде Исследование мемристорной структуры на основе вертикально ориентированных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей зондовой микроскопии М.В. Рубашкина, Ю.Ф. Блинов, В.А. Смирнов, О.А. Агеев, В.В. Полякова Влияние нанодисперсной фазы на морфологию поверхности полимерных мембран Т.С. Сазанова, О.Н. Шарыгина, И.В. Воротынцев Особенности изменения рельефа поверхности холестерических пленок циклосилоксановых олигомеров при нагревании О.В. Синицына, Г.Б. Мешков, А.Ю. Бобровский, И.В. Яминский, В.П. Шибаев АСМ-исследование доменной структуры водородосодержащих сегнетоэлектрических кристаллов с профильным распределением примеси А.Л. Толстихина, Н.В. Белугина, Р.В. Гайнутдинов, А.К. Лашкова, И.Ф. Кашевич, В.Н. Шут, С.Е. Мозжаров Применение атомно-силовой микроскопии к изучению строения поверхности пленок оксидов тантала и ниобия А.М. Шульга, К.В. Степанова, А.Н. Кокатев, Н.М. Яковлева 2 июня, вторник 17.30 – 19.00 Секция V. Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в химии и геологии Изучение механизма импульсных энергетических воздействий на породообразующие минералы кимберлитов (РЭМ-РСМА, РФЭС и ИКФС) Н.Е. Анашкина, И.Ж. Бунин, Е.В. Копорулина, М.В. Рязанцева Использование SEM-EDX анализа для интерпретации эффективных коэффициентов поглощения природных минералов, полученных методом рентгеновской микротомографии И.А. Варфоломеев, О.А. Ковалёва, И.В. Якимчук, Д.А. Коробков Применение электронной микроскопии и лазерной спектрометрии для изучения субмикронных частиц при разрушении горных пород C.Д. Викторов, А.Н. Кочанов, Е.В. Копорулина Строение поверхности силоксан-уретан-этиленоксидных блок-сополимеров И.О. Волков, Л.В. Филимонова, Л.И. Макарова, О.В. Синицына, А.А. Бурмистров, А.А. Анисимов, О.А. Белякова, Г.Г. Никифорова, Е.М. Белавцева АСМ природных стекол – о природе наблюдаемой шероховатости Е.А. Голубев Влияние подложки на химические свойства наночастиц золота М.В. Гришин, А.А. Кирсанкин, А.К. Гатин, Б.Р. Шуб Физико-химические свойства борорганических наночастиц, нанесенных на различные подложки М.В. Гришин, В.А. Харитонов, А.К. Гатин, В.Г. Слуцкий, Б.Р. Шуб РЭМ и РСМА исследование модификации поверхности базальтового стекловолокна различного состава посредством кислотного гидролиза в широком интервале pH А.В. Кнотько, А.В. Ситанская, Д.Д. Паньшина, В.К. Иванов Применение растровой электронной микроскопии для типизации пород коллекторов нефти и газа В.А. Кузьмин, Н.А. Скибицкая Сопоставление показателей формы треков, созданных α-частицами в полимерном детекторе и измеренных с применением оптического и растрового электронного микроскопов М.В. Ломакин, В.А. Стебельков Экспериментальная фоссилизация мягких тканей животных в глинистых минералах Е.Б. Наймарк, Л.В. Зайцева Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии для изучения продуктов современной вулканической деятельности В.М. Округин, Н.А. Малик, С.В. Москалева, В.В. Козлов, Е.Ю. Плутахина, Т.М. Философова, В.М. Чубаров, М.В. Чубаров, Д.А. Яблокова, О.А. Зобенько, Ш.С. Кудаева Возможности сканирующей электронной и зондовой микроскопии при изучении форм нахождения меди в продуктах извержения Толбачинской зоны ареального вулканизма (Камчатка) В.М. Округин, В.В. Козлов, Н.А. Малик, С.В. Москалева, Т.М. Философова, М.В. Чубаров, Ш.С. Кудаева
В.М. Округин, Д.А. Яблокова, Е.Д. Скильская, К.О. Шишканова, Т.М. Философова, С.В. Москалева, И.И. Чернев, М.В. Чубаров
П.А. Осипов, А.Ж. Терликбаева, Р.А. Шаяхметова, Ж.Т. Ногаев Исследование микрометеоритов из Байкала на микроанализаторе JXA8200 Л.А. Павлова, Е.В. Антипин Муассанит в породах Бобруйской кольцевой структуры (Республика Беларусь) Л.А. Павлова, В.И. Левицкий, В.В. Солодилова, Н.С. Завадич Золото-никелевые нанокатализаторы для низкотемпературного окисления водорода С.Ю. Сарвадий, А.К. Гатин, М.В. Гришин, А.А. Кирсанкин, С.А Николаев, Б.Р. Шуб Исследование микроструктуры пленок "хитозан -лекарственные средства" М.А. Севостьянов, А.Ю. Федотов, Е.О. Насакина, А.Ю.Тетерина, А.С. Баикин, К.В. Сергиенко, А.В. Леонов, Ю.О. Леонова, А.Г. Колмаков Изучение карбонатно-органических полимеров в породах коллекторах нефти и газа методами электронной микроскопии Н.А. Скибицкая, В.А. Кузьмин Микроструктура современных илов Белого моря В.Н. Соколов, Д.Ю. Здобин, М.С. Чернов, Д.И. Юрковец, О.В. Разгулина Микроморфологические особенности органического вещества в глинистых грунтах В.Н. Соколов, В.И. Осипов Исследование поверхности магнетитов из осадков озер Северо-Востока России Т.В. Субботникова, П.С. Минюк Исследование поведения элементов в зонах деформаций палласитов Омолон и Сеймчан Т.В. Субботникова, О.Т. Соцкая, А.А. Пляшкевич Эволюция морфологии и состава поверхностных оксидных фаз в гетеросегрегационных процессах: ВРЭМ, РСМА, ИКС, ОЦМ, АСМ Ю.Я. Томашпольский, В.М. Матюк, Н.В. Садовская, С.Г. Лакеев, П.С. Воронцов Зависимость структуры силоксануретановых эластомеров от способа синтеза Л.В. Филимонова, Л.И. Макарова, И.О. Волков, О.В. Синицына, А.А. Бурмистров, А.Г. Филатова, М.И. Бузин, В.Г. Васильев, Б.Г. Завин, И.В. Яминский, Г.Г. Никифорова, Е.М. Белавцева Наностуктурные исследования природных минеральных систем М.С. Чернов, В.Н. Соколов, О.В. Разгулина, Д.И. Юрковец Комбинирование методов рентгеновской микротомографии и электронной микроскопии для создания трехмерных карт микропористости образцов горных пород Б.Д. Шарчилев, И.А. Варфоломеев, И.В. Якимчук 3 июня, среда День 11.00 – 13.00 Секция VI. Применение сканирующей электронной, зондовой и конфокальной микроскопии в биологии, медицине и экологии Сканирующая электронная микроскопия лучевых артерий, используемых в коронарном шунтировании И.М. Байбеков, У.Б. Ахмедов, И.А. Абдухалимов Ультраструктурные изменения элементов периферической крови больных бронхиальной астмой и в эксперименте Т.Г. Бархина, М.Ю. Гущин, О.В. Миславский, В.А. Ксенофонтова, С.А. Польнер Сканирующая электронная микроскопия наиболее универсальных органов-мишеней при светодиодных и лазерных и воздействиях А.Х. Бутаев, Д.Т. Пулатов, М.И. Байбек-Палмос, И.М. Байбеков Экологическая оценка состояния территории по результатам сканирующей электронной микроскопии В.В. Габечая, В.А. Раскатов, Т.Х. Кумахова Иммуноцитохимическое исследование распределения транспортеров глюкозы в культуре клеток Сасо2 Н.М. Грефнер, Л.В. Громова, Я.Ю. Комиссарчик Мультимасштабная мультимодальная микроскопия и анализ полного распределения по размерам наноэмульсий, полученных из двухфазного потока Т.Г. Дмитриева, В.А.Черезова, П.Р. Казанский, В.Я. Шкловер, Е.А Федотова Ультраструктурная характеристика локализации катионов натрия при дегидратации цитологических мазков орального секрета и индуцированной мокроты С.В. Зиновьев, С.С. Целуйко, М.М. Горбунов, А.В. Прокопенко, Д.П. Решодько Сканирующая электронная микроскопия шовного материала при изучении осложнений в сердечнососудистой и абдоминальной хирургии П.Е. Каракозов, Б.К. Ибадов, Д.Н. Мадаминов Сканирующая электронная микроскопия в оценке осложнений, связанных с применением биологических материалов в сердечнососудистой хирургии П.Е. Каракозов, Б.К. Ибадов Особенности адсорбции катионной РНКазы Bacillus pumilus на заряженной и гидрофобной поверхностях О.А. Коновалова, Н.В. Калачева, Г.Р. Игтисамова Сканирующая электронная микроскопия токсичных динофлагеллят А.Ф. Крахмальный, Ю.Б. Брянцева Микрорельеф поверхности листьев некоторых горных представителей maloideae Т.Х. Кумахова, А.В. Бабоша, А.С. Рябченко, Д.М. Анатов, М.К. Дакиева Сканирующая электронная микроскопия как метод изучения особенностей агробактериальной трансформации мицелия вешенки обыкновенной А.В. Лавлинский, Ю.В. Смирнова, В.Н. Попов Анализ морфологии молекулярных конструкций на основе комплексов двунитевой ДНК и гадолиния с помошью атомно-силовой, конфокальной и электронной микроскопии О.Г. Леонова, В.И. Салянов, Ю.М. Евдокимов, В.И. Попенко Сканирующая и просвечивающая электронная микроскопия в изучении феномена формирования ДНК-содержащих микрочастиц в ходе ПЦР А.В. Мачулин, В.В. Сорокин, А.С. Шебанова, В.Н. Данилевич Морфолого - анатомические исследования зоны срастания прививочных компонентов абрикоса методом РЭМ С.М. Мотылева, Г.Ю. Упадышева, М.Е. Мертвищева Изучение морфологии некоторых видов ветвистоусых ракообразных озера Тана (Эфиопия, Восточная Африка) при помощи сканирующего электронного микроскопа А.Н. Неретина Ultrapathology differents forms relationships parasit-host K.O. Hovnanyan Анализ морфологии наночастиц из тритерпеноидов бересты с помощью атомно-силовой и электронной микроскопии Н.В. Рукосуева, К.А. Овчинникова, А.П. Каплун, О.Г. Леонова, В.И. Попенко Секреторные процессы в эмбриогенном каллусе гречихи татарской Н.И. Румянцева, В.Г. Евтюгин, В.В. Сальников, Ю.Н. Осин Ультраструктурные особенности различных типов карциноидов легкого человека Е.А. Смирнова, Н.Т. Райхлин, И.А. Букаева Ультраструктура сперматозоидов, как отражение и результат эволюции пресноводных моллюсков Е.В. Солдатенко, А.Б. Шатров Сканирующая электронная микроскопия слизистой оболочки при полипах на фоне риносинуситов Д.Д. Султанова, И.М. Байбеков Генно-клеточная терапия для стимулирования нейрорегенерации при травме спинного мозга (конфокальная микроскопия) Г.Ф. Шаймарданова, А.Р. Мухитов 3 июня, среда Вечер 15.30 – 18.00 Секция IV. Применение сканирующей электронной и зондовой микроскопии в физике, материаловедении, микроэлектронике и нанотехнологиях Зависимость роста тонких плёнок металла от технологических параметров их формирования И.Б. Аксенов, Г.Р. Насибуллова Микроскопия электрохимических деформаций коммерческих литий ионных аккумуляторов Д.О. Аликин, А.В. Иевлев, А.П. Турыгин, С. Лучкин, В.Я. Шур, С. Калинин А.Л. Холкин Синтез и изучение свойств наноразмерных термитов Fe2O3 + Al Е.С. Афанасенкова, Н.Г. Березкина, А.Н. Жигач, М.Л. Кусков, И.О. Лейпунский, В.В. Артемов, А.Ю. Долгобородов, В.Г. Кириленко, А.Н. Стрелецкий, Г.А. Воробьева, А.А. Шевченко, О.М. Жигалина Наноразмерный гидрид титана Е.С. Афанасенкова, Н.Г. Березкина, А.Н. Жигач, М.Л. Кусков, И.О. Лейпунский, Б.В. Кудров, А.А. Мазилкин
Л.Е. Афанасьева, И.А. Барабонова, Г.В. Раткевич, А.А. Румянцев, Д.А. Русаков Разработка технологии изготовления кремниевых полосковых волноводов с дифракционными решетками и 2D фотонными кристаллами М.Ю. Барабаненков, А.Ф. Вяткин, В.Т. Волков, А.Н. Грузинцев, А.И. Ильин, О.В. Трофимов
С.А. Башкиров, В.Ф. Гременок, А.Н. Петлицкий, С.В. Шведов, В.В. Цыбульский, Д.Е. Ёщик, С.П. Зимин
В.В. Болотов, Е.В. Князев, С.Н. Поворознюк, Ю.А. Стенькин Получение и исследование методом растровой электронной микроскопии гибридных структур на основе макропористого кремния и многостенных углеродных нанотрубок В.В. Болотов, К.Е. Ивлев, Е.В. Князев, В.Е. Росликов, Ю.А. Стенькин Исследование структуры нанокомпозитов медь/пористый кремний методом растровой электронной микроскопии А.В. Бондаренко, В.П. Бондаренко, Л.Н. Долгий, К.И. Абрамов, А.Н. Петлицкий, В.А. Пилипенко, С.В. Шведов, В.В. Цыбульский Исследование поверхности кремния после микрообработки низкоэнергетическим ленточным электронным потоком М.А. Бондаренко, Ю.Ю. Бондаренко, О.В. Свиридова Исследование структуры и физико-химических свойств кристаллов диоксида циркония стабилизированного различными оксидами редких земель М.А. Борик, В.Т. Бублик, А.В. Кулебякин, Е.Е. Ломонова, Ф.О. Милович, В.А. Мызина, Н.Ю. Табачкова
Г.С. Бурханов, В.М. Кириллова, В.В. Сдобырев, В.А. Дементьев, А.А. Манаков Атомно – силовая микроскопия агрегации микро и наночастиц Х.Х. Валиев, Б.В. Бошенятов, Ю.Н. Карнет, М.С. Паршина, Н.С. Снегирева, О.Б. Юмашев, Ю.Г. Яновский Исследование методом просвечивающей растровой электронной микроскопии различных типов структур одномерных кристаллов CuI и фазовых переходов в мета-нанотрубках 1D@ОСУНТ А.В. Васильев, А.С. Кумсков, В.Г. Жигалина, А.А. Елисеев, Н.А. Киселев Изучение локальной структуры и состава иттриевых ферритов-гранатов А.А. Вирюс, Т.П. Каминская, В.В. Коровушкин, М.А. Степович, М.Н. Шипко АСМ-исследование эпитаксиальных слоев Au на сапфире В.П. Власов, А.Э. Муслимов, А.В. Буташин, А.Б. Колымагин, Е.А. Данилина, В.М. Каневский
Б.М. Галиуллин Электронно-микроскопическое исследование заполнения низкоразмерных канавок и отверстий электролитическим никелем И.В. Гасенкова, И.М. Андрухович Исследование морфологии и структуры первапорационных мембран с тубулярными гидросиликатными наночастицами Г.Н. Губанова, Т.Е. Суханова, М.Э. Вылегжанина, С.В. Кононова Электронная микроскопия монокристаллических пленок твердого раствора висмут – сурьма, полученных методом зонной перекристаллизации под покрытием Е.В. Демидов, В.М. Грабов, В.А. Комаров, Н.С. Каблукова, А.Н. Крушельницкий, С.В. Сенкевич Получение и исследование методом растровой электронной микроскопии морфологии пленок MoO3 С.В. Денисюк, О.Н. Куданович, Э.Э. Колесник Контраст изображения в РЭМ в режиме регистрации отраженных электронов с селекцией по энергии Д.М. Долгинцев, В.А. Полищук, В.П. Пронин Сравнение кинетических (катодолюминесцентных, эмиссионных и зарядовых) характеристик диэлектриков при электронном облучении Е.Н. Евстафьева, И.А. Девятов, И.Н. Крупатин,Э.И. Рау, А.А. Татаринцев Наночастицы и нанокомпозитные материалы на основе диоксида кремния функционализированного производными п-трет-бутилтиакаликс[4]арена В.Г. Евтюгин, В.В. Горбачук, И.И. Стойков, Ю.Н. Осин Анализ структуры тригонального карбида хрома в белом чугуне М.А. Ермаков, Хосен Ри, Э.Х. Ри, В.В. Воробъев Применение ионных пучков для изучения структуры порошка цинка О.М. Жигалина1, В.Г.Жигалина1, А.Л.Чувилин2,3, Д.Н.Хмеленин1, Н.Г.Березкина4, А.Н.Жигач4, Е.С.Афанасенкова4, И.А.Лейпунский4, М.Л.Кусков4 Морфология поверхности электроспиннинговых матов после различной обработки по данным РЭМ В.Г. Жигалина, Ив.И. Пономарев, О.М. Жигалина, И.И. Пономарев Исследование продуктов термической деструкции ионной жидкости методом РЭМ О.E. Журавлев, А.И. Иванова, Р.М. Гречишкин Получение и стабильность нанопроволок Д.Л. Загорский, В.В. Артемов, В.В. Коротков, Д.А. Парфенов, Е.В. Антонов Дифракционные отражающие решетки А.Р. Закирова, З.С. Гибалина, К.С. Коренной Исследование нанокомпозитов на основе оксида церия в РЭМ и структурными методами М.А. Запорожец, А.Ю. Соловьева, А.Я. Шаляпина, А.С. Авилов, В.И. Николайчик, Е.Ю. Буслаева, С.П. Губин
Е.П. Зарецкая1, В.Ф. Гременок1, А.Н. Петлицкий2, С.В. Шведов2, В.В. Цыбульский2, Д.Е. Ёщик2, А.В. Семченко3, А.М. Кечиянц4
В.М. Сенявин Цветная катодолюминесценция нанокремния, стабилизированного этильными радикалами П.В. Иванников, А.В. Кузьменков, А.И. Габельченко, Л.А. Асланов, В.Н. Захаров Структурные и электрофизические свойства тонких пленок PbХSn1-ХTe полученных методом «горячей стенки» В.А. Иванов, В.Ф. Гременок, Р.Л. Юшкенас, А.П. Мекис, В.В. Румбаускас Растровая электронная микроскопия фигур селективного травления монокристаллов оптического германия А.И. Иванова, Б.Б. Педько, Е.И. Каплунова, Р.М. Гречишкин Электронно-микроскопическое исследование политермического разреза диаграммы состояния Co-Al-W Н.В. Казанцева, С.Л. Демаков, А.С. Юровских, Н.Н. Степанова, Н.И. Виноградова, Д.И. Давыдов Использование двухфотонной конфокальной микроскопии для исследования объёмных неоднородностей в широкозонных полупроводниках В.П. Калинушкин, О.В. Уваров Влияние магнитоимпульсной обработки на локальные магнитные характеристики иттриевых ферритов-гранатов Т.П. Каминская, В.В. Коровушкин, В.В. Попов, М.А. Степович, М.Н. Шипко Исследование процессов роста сверхпроводящей фазы в сверхпроводниках на основе Nb3Sn И.А. Каратеев, Е.А. Дергунова, А.Е. Воробьева, И.М. Абдюханов, М.В. Алексеев, М.О. Курилкин, А.Л. Васильев Исследование структуры нанопроволок Bi в растровом электронном микроскопе методом дифракции обратнорассеянных электров Ю.А. Касумов, F. Brisset, А.Ю. Касумов, В.Т. Волков Структура макротрещины и трещиностойкость слоистого Ni-Al композита В.М. Кийко, В.П. Коржов Структура и трещиностойкость волокнистых (Al2O3 – CaO)/Mo композитов В.М. Кийко, Н.И. Новохатская Микроструктура и деформационные характеристики волокнистых (Al2O3 – CaO)/Mo композитов В.М. Кийко, Н.И. Новохатская Исследование методом атомно-силовой микроскопии структуры аморфных и нанокристаллических сплавов на основе металлов группы железа при термическом воздействии А.В. Кириллов, Е.Б. Модин, Е.В. Пустовалов, А.Н. Федорец, А.В. Дубинец, В.В. Ткачев, В.С. Плотников Микроскопия двойных пленок ZnO/AlN на сапфире А.М. Клевачев, А.В. Буташин, А.Э. Муслимов, П.А. Просеков, А.Л. Васильев, Е.В. Ракова, В.М. Каневский Влияние процесса скольжения дислокаций на формирование перекрестно-штриховой морфологии в AIII-BV гетероструктурах В.А. Ковальский, П.С. Вергелес, В.Г. Еременко, Д.А. Фокин, М.В. Дорохин, Ю.А. Данилов, Б.Н. Звонков Определение трех и четырехкомпонентных частиц в сплаве Al85Ni9Fe4La4 методами просвечивающей растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского микроанализа Н.Н. Колобылина, С.Ю. Лопатин, А.Л. Васильев, Н.Д. Бахтеева, М.Ю. Пресняков, А.Г. Иванова, Е.В. Тодорова
А.С. Коломийцев, И.Н. Коц, С.А. Лисицын СТМ зонд из монокристаллической нанопроволоки Bi1-xSbx для туннельной микроскопии высокого разрешения О.В. Кононенко, С.И. Божко, А.А. Мазилкин, А.М. Ионов, С.В. Чекмазов, А.А. Капустин, В.С. Божко Влияние исходного состава на формирование структуры слоистого композита на основе Ni-Al В.П. Коржов, В.М. Кийко Состав, структура и прочность Ni-Al композита при различных температурах В. П. Коржов, В.М. Кийко Формирование наноразмерных структур Ti для элементов наноэлектроники методом фокусированных ионных пучков И.Н. Коц, А.С. Коломийцев, С.А.Лисицин Исследование влияния концентрации наночастиц Sn на структурные и электрические свойства композитных пленок поли-п-ксилилена Е.П. Криничная, И.В. Клименко, С.А. Завьялов, Т.С. Журавлева Морфологические особенности термически напыленных пленок олова и его оксида по данным растровой микроскопии О.Н. Куданович, С.В. Денисюк, Э.Э. Колесник Изучение морфологии конденсированных продуктов, образующихся в результате взаимодействия излучения СО2-лазера с кристаллическим оксидом алюминия в атмосфере нейтрального газа М.Н. Ларичев, А.М. Величко, Г.Е. Беляев, А.И. Никитин, А.С. Осокин, В.В. Артемов Определение кинетических параметров вылетающих из лазерного кратера микрочастиц, по следам, оставляемым ими на поверхности образцов-свидетелей М.Н. Ларичев, А.М. Величко, Г.Е.Беляев, А.И.Никитин, А.С.Осокин, В.В.Артемов Анализ гетероструктур на основе оксидов цинка и меди методами РЭМ и АСМ Н.А. Лашкова, А.А. Бобков, А.И. Максимов, В.А. Мошников, Н.В. Пермяков, П.А. Сомов Микроструктурные исследования инструментальной стали HS6-5-2C после атмосферного плазменного азотирования косвенной дугой Я.С. Лизункова, А.И. Смирнов, А.В. Фелофьянова, Т. Хассель Трехмерная реконструкция поверхности по данным РЭМ А.А. Михуткин, В.Б. Митюхляев, Т.Н. Баймухаметов, Д.А. Карабанов, В.П. Гавриленко, А.Ю. Кузин, П.А. Тодуа, М.Н. Филиппов, А.Л. Васильев Исследование структуры и магнитных характеристик нанопроволок систем NiFe/Cu, Co/Cu, FeNi Е.Б. Модин, А.В. Кириллов, Е.В. Пустовалов, А.Н. Федорец, А.В. Дубинец, М.Е. Стеблий, В.С. Плотников
La1-ySryF3-y В.И. Николайчик, Б.П. Соболев, А.С. Авилов
В.И. Николайчик, Л.А. Клинкова Применение РЭМ для исследования адгезионных свойств спечённых слоёв серебросодержащих паст К.Н. Нищев, М.И. Новопольцев, В.П. Мишкин, Д.С. Горбунов, А.В. Гришанин Фрактограммы, полученные методом РЭМ, и прочность волокнистых (Al2O3 – CaO)/Mo композитов Н.И. Новохатская, В.М. Кийко Морфология поверхности пленок CdTe И.Р. Нуриев, А.М. Назаров, М.А. Мехрабова, Р.М. Садыгов Изучение механических свойств поверхности кристаллов сапфира с использованием сканирующего нанотвердомера «НаноСкан-3Д» А.М. Ополченцев, А.Э. Муслимов, А.В. Буташин, А.Н. Дерябин, В.М. Каневский Структура биокомпозитов на основе бактериальной целлюлозы Acetobacter xylinum и полиакриламида как перспективных заменителей хрящевых тканей А.С. Орехов, Н.А. Архарова, В.В. Клечковская, А.Л. Буянов, А.К. Хрипунов, Р.Л. Смыслов
Н.М. Парфёнов, А.С. Тимошенков Исследование влияния режимов формирования пленок оксида цинка на их структуру А.Н. Петлицкий, В.А. Пилипенко, С.В. Шведов, В.В. Цыбульский, В.П. Бондаренко, Е.Б. Чубенко, А.И. Шерстнев
Д.Е. Петренко, Р.А. Камышинский, А.Н. Коровин, Т.У. Григорьев, С.Н. Чвалун, А.В. Алленов, Г.А. Юрасик, С.П. Молчанов, П.В. Лебедев-Степанов, А.Т. Дидейкин, А.Я. Вуль, А.Л. Васильев
М.М. Макар Катодолюминесценция свободных экситонов в нитриде галлия. Результаты математического моделирования А.Н. Поляков, М.А. Степович, Д.В. Туртин Мезоструктура поверхности аморфных металлических фольг на основе Fe Д.А. Полянский, В.В. Ткачев, Г.С. Крайнова, В.С. Плотников, А.В. Дубинец, Н.В. Ильин Применение сканирующей электронной микроскопии для исследования структуры композиционных гранул с наноалмазными упрочняющими частицами В.А. Попов Влияние режимов механического легирования на распределение наноалмазных упрочняющих частиц в композитах с матрицей из алюминия, цинка и олова В.А. Попов, А.С. Просвиряков, Д.М. Матвеев, И.М. Карнаух, И.И. Ходос, Е.В. Вершинина
В.А. Попов Окисление поверхности композиционных гранул с наноалмазными упрочняющими частицами В.А. Попов Исследование формирования наночастиц в кремнии методом легирования ионами цинка большой дозой с помощью РЭМ, ПЭМ и АСМ В.В. Привезенцев, Н.Ю. Табачкова, К.Б Эйдельман, С.В Ксенич, А.А. Батраков Локальный атомный порядок аморфных сплавов CoP-CoNiP по данным дифракционного анализа Е.В. Пустовалов, Е.Б Модин, А.В. Федорец, А.Н. Дубинец, С.С. Грабчиков, В.С. Плотников
В.Е. Рогалин, И.А. Каплунов, Р.М. Гречишкин, А.И. Иванова Исследование микроскопических характеристик полиметилметакрилата с наночастицами серебра, сформированного методом ионной имплантации И.Р. Сафина, И.Б. Аксенов, А.Р. Бадрутдинов, Е.В. Нуждин, В.И. Нуждин, В.Ф. Валеев, А.Л. Степанов Характеризация моноклинной фазы в тонких пленках ЦТС в области морфотропной фазовой границы С.В. Сенкевич, И.П. Пронин, Е.Ю. Каптелов, В.П. Пронин, А.Г. Канарейкин, В.М. Стожаров Структуро- и фазообразование при формировании ионно-плазменных вакуумно-дуговых покрытий, адаптируемых к меняющимся условиям трения В.С. Сергевнин, И.В. Блинков, А.О. Волхонский, Ю.Г. Зудина Особенности формирования межфазной границы при лазерной сварке разнородных материалов А.И. Смирнов, А.А. Никулина, А.А. Чевакинская, Т.А. Калашникова Исследование морфологии тонких пленок TiO2 методами атомно-силовой микроскопии А.Ю. Степанов, Л.В. Сотникова, А.А. Владимиров, Ф.В. Титов, Д.В. Дягилев, С.А. Созинов
В.В. Ткачев, Г.С. Крайнов, А.М. Фролов, С.В. Должиков Влияние примесей на морфологию пленок SnO2 В.В. Томаев, А.И. Глазов Влияние подложки на морфологию формирования пленок AgI методом лазерной абляции В.В. Томаев, В.А. Полищук,С.В. Фокина, Ю.С. Тверьянович, Е.Н. Борисов Механизм формирования аномально светлого контраста в наведенном токе от плоскостей скольжения за дислокациями в кремнии О.В. Феклисова, Е.Б. Якимов, В.И. Орлов РЭМ-идентификация аморфного состояния на лентах Fe-B А.М. Фролов, Г.С. Крайнова, С.В. Должиков Влияние термической обработки на строение сварных швов разнородных сталей, полученных стыковой контактной сваркой А.А. Чевакинская, А.А. Никулина, Т.А. Калашникова, А.С. Денисова Формирование доменной структуры облучением электронным лучом Z+ полярной поверхности MgO:LN Д.С. Чезганов, М.М. Смирнов, Д.О. Аликин, М.М. Нерадовский, Д.К. Кузнецов, В.Я. Шур Исследование строения границ раздела в МДП-структрах на основе A3B5-полупроводников А.Г. Черков, С.Е. Хандархаева, А.К. Гутаковский, Н.А. Валишева, М.С. Аксенов, В.А. Голяшов, О.Е. Терещенко
А.В. Черногор, И.В. Блинков, А.О. Волхонский, С. Нематулаев Исследования микроструктуры ультратонких слоев high-k диэлектриков на основе HfO2 методами просвечивающей растровой электронной микроскопии Ю.М. Чесноков, А.Л. Васильев, А.В. Мяконьких, К.В. Руденко Практика исследования титановых сплавов методом электронной микроскопии Е.А. Шушакова, Н.П.Волкова, А.Н. Панкратов, Д.А. Сухоросов, А.В. Волков Исследование структуры и механических характеристик керамики на основе соосажденных пентаоксидов Nb2(1-y)Ta2yO5 методами сканирующей электронной и зондовой микроскопии О.Б. Щербина, М.Н. Палатников, В.В Ефремов, В.В. Семушин Исследование процесса деградации и разрушения исторического стеклянного бисера методами растровой электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа Т.В. Юрьева, И.Б. Афанасьев, В.А. Юрьев жүктеу/скачать 385.45 Kb. Достарыңызбен бөлісу:
|