Рабочей программы дисциплины электронная микроскопия

• 
  (ОК-6) способность самостоятельно приобретать с помощью информационных технологий и использовать в практической деятельности новые знания и умения, в том числе в новых областях знаний, непосредственно не связанных со сферой деятельности;
  
• 
  (ПК-3) самостоятельный анализ имеющейся информации, выявление фундаментальных проблем, постановка задач и выполнение полевых, лабораторных биологических исследований при решении конкретных задач по специализации с использованием современной аппаратуры и вычислительных средств, ответственность за качество работ и научную достоверность результатов;
  
• 
  (ПК-10) понимание и творческое использование в научной и производственно-технологической деятельности знания фундаментальных и прикладных разделов специальных дисциплин магистерской программы;
  
• 
  (ПК-13) самостоятельное использование современных компьютерных технологий для решения научно-исследовательских и производственно-технологических задач профессиональной деятельности, для сбора и анализа биологической информации;
  
• 
  (СК-2) понимание и творческое использование знаний фундаментальных
  

• 
  принцип метода сканирующей и трансмиссионной электронной микроскопии;
  
• 
  основные современные теоретические и методологические подходы к получению ультраструктурного изображения;
  

• 
  проводить предварительную обработку биологического материала для исследования в электронном микроскопе;
  
• 
  интерпретировать электроннофотограммы, полученные в электронном микроскопе
  

• 
  навыками работы по напылению металлов на образец для сканирующей микроскопии, контрастировании сеточек с ультратонкими срезами клеток и тканей для трансмиссионной микроскопии.
  

Общая трудоемкость дисциплины составляет 3 зачетные единицы, 108 часов.

Лекции – 12 часов;

Практических работ – 24 часа;

Самостоятельная работа студентов – 54 часа;

Форма аттестации – экзамен.

1. 
   Формирование изображений в световой и электронной оптике. Разрешающая способность световой и электронной оптики. Электростатические и электромагнитные линзы. Типы электронных микроскопов.
   
2. 
   Электронная пушка, конденсорная система линз, объективная, промежуточная проекционная линзы. Глубина поля и глубина фокуса электронного микроскопа. Юстировка, определение увеличения и разрешающей способности электронного микроскопа.
   
3. 
   Cферическая абберация, хроматическая абберация, астигматизм. Основные эффекты. Резерфордовское рассеяние. Понятие о предельной толщине прозрачного образца.
   
4. 
   Элементы кристаллографии, обратная решетка. Дифракция от линейной и трехмерной решетки. Метод микродифракции. Геометрия дифракционной картины электронов. Типы электронограмм.
   
5. 
   Структурный фактор. Кинематическая теория контраста. Интенсивность дифрагированных пучков. Амплитудно-фазовая диаграмма. Наклонные и толщинные экстинкционные контуры. Основы динамической теории контраста. Контраст на дефектах упаковки, дислокациях, границах зерен (кинетическое описание и динамические эффекты).
   
6. 
   Особенности трансмиссионной электронной микроскопии. Метод ультратонких срезов с применением негативного контрастирования. Особенности фиксации разных биологических объектов в связи с разными задачами. Заливка материала в смолы, получение полутонких и ультратонких срезов; Окрашивание полутонких срезов для световой микроскопии и контрастирование ультратонких срезов.
   
7. 
   Работа на трансмиссионном микроскопе. Анализ полученных изображений с точки зрения структурно-функциональных отношений; возможные артефакты.
   Иммуноцитохимия полутонких и тонких срезов.
   
8. 
   Особенности сканирующей электронной микроскопии. Подготовка материала для сканирующей микроскопии. Напыление металлами.
   
9. 
   Особенности работы с разным биологическим материалом. Метод "пленок-реплик". Режим сверхнизкого и окружающего давления