Программа рэм-2015 1 июня, понедельник 10. 00 18. 30 Лекции Школы
Получение и исследование методом растровой электронной микроскопии морфологии пленок MoO3
жүктеу/скачать 448.5 Kb.
|
- Бұл бет үшін навигация:
- Контраст изображения в РЭМ в режиме регистрации отраженных электронов с селекцией по энергии
- Анализ структуры тригонального карбида хрома в белом чугуне
- Морфология поверхности электроспиннинговых матов после различной обработки по данным РЭМ
- Получение и стабильность нанопроволок
- Дифракционные отражающие решетки
- Исследование нанокомпозитов на основе оксида церия в РЭМ и структурными методами
- Изучение термической стабильности поверхности кристалла CdTe методами микроскопии и электронографии in situ
- Растровая электронная микроскопия фигур селективного травления монокристаллов оптического германия
- Электронно-микроскопическое исследование политермического разреза диаграммы состояния Co-Al-W
- Влияние магнитоимпульсной обработки на локальные магнитные характеристики иттриевых ферритов-гранатов
- Возможности методов дифракции обратно отраженных электронов для исследования микроструктуры ферритно-перлитных сталей
- Исследование процессов роста сверхпроводящей фазы в сверхпроводниках на основе Nb 3 Sn
- Исследование методом атомно-силовой микроск опии структуры аморфных и нанокристаллических сплавов на основе металлов группы железа
- Определение трех и четырехкомпонентных частиц в сплаве Al85Ni9Fe4La4 методами просвечивающей растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского микроанализа
- Исследование процессов формирования наноразмерных структур углерода методом локального ионно-стимулированного осаждения
- Изучение морфологии конденсированных продуктов, образующихся в результате взаимодействия излучения СО 2 -лазера с кристаллическим оксидом алюминия в атмосфере нейтрального газа
- Микроструктурные исследования инструментальной стали HS6-5-2C после атмосферного плазменного азотирования косвенной дугой
- Применение РЭМ для исследования адгезионных свойств спечённых слоёв серебросодержащих паст
- Морфология поверхности пленок CdTe
- Структура биокомпозитов на основе бактериальной целлюлозы Acetobacter xylinum и полиакриламида как перспективных заменителей хрящевых тканей
Получение и исследование методом растровой электронной микроскопии морфологии пленок MoO3 С.В. Денисюк, О.Н. Куданович, Э.Э. Колесник Институт физики НАН Беларуси, , 220072, г. Минск, пр. Независимости, 68, Беларусь Контраст изображения в РЭМ в режиме регистрации отраженных электронов с селекцией по энергии Д.М. Долгинцев1, В.А. Полищук2, В.П. Пронин1 1РГПУ им. А.И. Герцена, 191186, Санкт-Петербург, наб. р. Мойки 48 2Санкт-Петербургский университет ИТМО, 197101, Россия, Санкт-Петербург Сравнение кинетических (катодолюминесцентных, эмиссионных и зарядовых) характеристик диэлектриков при электронном облучении Е.Н. Евстафьева1, И.А. Девятов1, И.Н. Крупатин1,Э.И. Рау1, А.А. Татаринцев2 1 Физический факультет МГУ имени М.В. Ломоносова, г. Москва 2 Физико-технологический институт РАН Наночастицы и нанокомпозитные материалы на основе диоксида кремния функционализированного производными п-трет-бутилтиакаликс[4]арена В.Г. Евтюгин1, В.В. Горбачук2, И.И. Стойков2, Ю.Н. Осин1,3 1 Междисциплинарный центр Аналитическая микроскопия, Казанский (Приволжский) федеральный университет, 420008, г. Казань, Кремлёвская 18, Россия 2 Химический институт им. А.М. Бутлерова, Казанский (Приволжский) федеральный университет, 420008, г. Казань, Кремлёвская 18, Россия 3 НОЦ Современные геофизические технологии, Казанский (Приволжский) федеральный университет, 420008, г. Казань, Кремлёвская 18, Россия Анализ структуры тригонального карбида хрома в белом чугуне М.А. Ермаков1, Хосен Ри1, Э.Х. Ри1, В.В. Воробъев2 1Тихоокеанский государственный университет, 680042, г. Хабаровск, Тихоокеанская 136, Россия 2Казанский (Приволжский) федеральный университет, 420008, г. Казань, Кремлевская 18, Россия Применение ионных пучков для изучения структуры порошка цинка О.М. Жигалина1, В.Г.Жигалина1, А.Л.Чувилин2,3, Д.Н.Хмеленин1, Н.Г.Березкина4, А.Н.Жигач4, Е.С.Афанасенкова4, И.А.Лейпунский4, М.Л.Кусков4 1 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333, г. Москва, Ленинский проспект 59, Россия 2 CIC nanoGUNE Consolider Tolosa Hiribidea, 76 E-20018 Donostia – San Sebastian, Spain 3 IKERBASQUE. Basque Foundation for Science, Bilbao, Spain 4 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л.Тальрозе РАН Морфология поверхности электроспиннинговых матов после различной обработки по данным РЭМ В.Г. Жигалина1, Ив.И. Пономарев2, О.М. Жигалина1, И.И. Пономарев2 1 ФГБУН Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333, г. Москва, Ленинский проспект, 59 2 ФГБУН Институт элементоорганических соединений им. А.Н. Несмеянова РАН, г. Москва Исследование продуктов термической деструкции ионной жидкости методом РЭМ О.E. Журавлев1, А.И. Иванова1, Р.М. Гречишкин1,2 1Тверской государственный университет, 170002, г.Тверь ул. Желябова, 33 2Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", 119049, Москва, Ленинский проспект, 4 Получение и стабильность нанопроволок Д.Л. Загорский, В.В. Артемов, В.В. Коротков, Д.А. Парфенов, Е.В. Антонов Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН,119333,Ленинский пр-т,59 Дифракционные отражающие решетки А.Р. Закирова1, З.С. Гибалина1, К.С. Коренной1,2 1.Казанский национальный исследовательский технический университет им. А.Н.Туполева, г.Казань ул.К.Маркса, 31/7, Россия 2. Федеральное государственное унитарное предприятие «Научное производственное объединение «Государственный институт прикладной оптики» г.Казань, ул.Липатова, 2, Россия Исследование нанокомпозитов на основе оксида церия в РЭМ и структурными методами М.А. Запорожец1,2, А.Ю. Соловьева2, А.Я. Шаляпина1, А.С. Авилов1, В.И. Николайчик3, Е.Ю. Буслаева2, С.П. Губин2 1 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, 119333, г. Москва, Ленинский пр-т 59, Россия 2 Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова, 119991, г. Москва, Ленинский пр-т 31, Россия 3 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432, г. Черноголовка, Московская обл., Россия Исследование зависимости морфологических и структурных свойств пленок ZnO:Al от условий получения золь-гель осаждением Е.П. Зарецкая1, В.Ф. Гременок1, А.Н. Петлицкий2, С.В. Шведов2, В.В. Цыбульский2, Д.Е. Ёщик2, А.В. Семченко3, А.М. Кечиянц4
«горячей стенки» В.А. Иванов1, В.Ф. Гременок1, Р.Л. Юшкенас2, А.П. Мекис3, В.В. Румбаускас3 1 Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению, 220072, г. Минск, П. Бровки 19, Беларусь 2 Государственный научно исследовательский институт «Центр по физическим и технологическим наукам», А. Гоштауто 9, ЛТ-01108, Вильнюс, Литва 3 Институт прикладных исследований при Вильнюском Университете, Саулетекио 9-III, ЛТ-10222 Вильнюс, Литва Растровая электронная микроскопия фигур селективного травления монокристаллов оптического германия А.И. Иванова, Б.Б. Педько, Е.И. Каплунова, Р.М. Гречишкин Тверской государственный университет г.Тверь ,ул.Желябова, 33. Россия Электронно-микроскопическое исследование политермического разреза диаграммы состояния Co-Al-W Казанцева Н.В.1,2, Демаков С.Л2., Юровских А.С2., Степанова Н.Н.1,2, Виноградова Н.И.1, Давыдов Д.И.1 1 ИФМ УрО РАН, 620137 Екатеринбург, ул. С. Ковалевской, 18, Россия 2 Уральский федеральный университет им. первого Президента России Б.Н.Ельцина, 620002 г. Екатеринбург, ул. Мира, 19, Россия Влияние магнитоимпульсной обработки на локальные магнитные характеристики иттриевых ферритов-гранатов Т.П. Каминская1, В.В. Коровушкин2, В.В. Попов1, М.А. Степович3, 4, М.Н. Шипко4, 5 1 ФГБОУ ВПО «Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова», 119991, ГСП-1, г. Москва, Ленинские горы, д. 1, строение 2, физический факультет, Россия 2 ФГАОУ ВПО «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», 119049, г. Москва, Ленинский проспект, д. 4, Россия 3 ФГБОУ ВПО «Калужский государственный университет им. К.Э. Циолковского», 248023, г. Калуга, ул. Ст. Разина, д. 26, Россия 4 Ивановский филиал ФГБОУ ВПО «Российский экономический университет им. Г.В. Плеханова», 153000, г. Иваново, ул. Дзержинского, д. 53, Россия 5 ФГБОУ ВПО «Ивановский государственный энергетический университет им. В.И. Ленина», 153003, г. Иваново, ул. Рабфаковская, д. 34, Россия Возможности методов дифракции обратно отраженных электронов для исследования микроструктуры ферритно-перлитных сталей М.М. Кантор, К.Г. Воркачев Институт металлургии и материаловедения им. А.А. Байкова РАН, г. Москва, Россия Исследование процессов роста сверхпроводящей фазы в сверхпроводниках на основе Nb3Sn И.А. Каратеев1, Е.А. Дергунова2, А.Е. Воробьева2, И.М. Абдюханов2, М.В. Алексеев2, М.О. Курилкин2, А.Л. Васильев1 1 НИЦ «Курчатовский институт», 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1, Россия 2 ОАО «ВНИИНМ имени академика А.А. Бочвара», 123098, г. Москва, ул. Рогова, д. 5а, Россия Исследование структуры нанопроволок Bi в растровом электронном микроскопе методом дифракции обратнорассеянных электров Ю.А. Касумов1, F. Brisset2, А.Ю. Касумов1, В.Т. Волков1 1. Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 2. Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay, Orsay, France Структура макротрещины и трещиностойкость слоистого Ni-Al композита В.М. Кийко, В.П. Коржов Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия Структура и трещиностойкость волокнистых (Al2O3 – CaO)/Mo композитов В.М. Кийко, Н.И. Новохатская Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия Микроструктура и деформационные характеристики волокнистых (Al2O3 – CaO)/Mo композитов В.М. Кийко, Н.И. Новохатская Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия Исследование методом атомно-силовой микроскопии структуры аморфных и нанокристаллических сплавов на основе металлов группы железа при термическом воздействии А.В. Кириллов, Е.Б. Модин, Е.В. Пустовалов, А.Н. Федорец, А.В. Дубинец, В.В. Ткачев, В.С. Плотников ФГАОУ ВПО «Дальневосточный федеральный университет», 690950, г. Владивосток, ул. Суханова 8, Россия Рентгеноспектральный микроанализ жаропрочного монокристаллического W-Nb сплава Д.С. Киселев, В.П. Смирнов, А.А. Урусов Федеральное государственное унитарное предприятие «Научно-исследовательский институт Научно-производственное объединение «ЛУЧ», г. Подольск, Московская обл., Россия Микроскопия двойных пленок ZnO/AlN на сапфире А.М. Клевачев, А.В.Буташин, А.Э. Муслимов, П.А. Просеков, А.Л. Васильев, Е.В. Ракова, В.М. Каневский Институт кристаллографии РАН, г. Москва, Россия Влияние процесса скольжения дислокаций на формирование перекрестно-штриховой морфологии в AIII-BV гетероструктурах
Б.Н. Звонков3 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 2 Bruker Nano Surface Division, Moscow, Russia 3 Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И.Лобачевского, Нижний Новгород Определение трех и четырехкомпонентных частиц в сплаве Al85Ni9Fe4La4 методами просвечивающей растровой электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского микроанализа Н.Н. Колобылина1, С.Ю.Лопатин2, А.Л. Васильев1,3, Н.Д. Бахтеева4, М.Ю. Пресняков1, А.Г. Иванова3, Е.В. Тодорова4.
А.С. Коломийцев1, И.Н. Коц1, С.А. Лисицын1 1 Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения Южного Федерального Университета, г. Таганрог, Ростовская обл., Россия СТМ зонд из монокристаллической нанопроволоки Bi1-xSbx для туннельной микроскопии высокого разрешения О.В. Кононенко1, С.И. Божко2, А.А. Мазилкин2,А.М. Ионов2, С.В. Чекмазов2, А.А. Капустин2, В.С. Божко3 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 2 Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 3 Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», г. Москова, Россия Влияние исходного состава на формирование структуры слоистого композита на основе Ni-Al В. П. Коржов, В.М. Кийко Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия Состав, структура и прочность Ni-Al композита при различных температурах В. П. Коржов, В.М. Кийко Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия Формирование наноразмерных структур Ti для элементов наноэлектроники методом фокусированных ионных пучков И.Н. Коц, А.С. Коломийцев, С.А.Лисицин 1 Институт нанотехнологий, электроники и приборостроения Южного федерального университета, г Таганрог, ул. Шевченко 2, Россия Исследование влияния концентрации наночастиц Sn на структурные и электрические свойства композитных пленок поли-п-ксилилена Е.П. Криничная1, И.В. Клименко1, С.А. Завьялов2, Т.С. Журавлева1 1ФГБУН Институт биохимической физики им. Н.М. Эмануэля РАН,119334, г. Москва, ул. Косыгина, 4, Россия 2ФГБУН Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт», 123182, Москва, пл. Академика Курчатова, 1, Россия Морфологические особенности термически напыленных пленок олова и его оксида по данным растровой микроскопии О.Н. Куданович, С.В. Денисюк, Э.Э. Колесник Институт физики НАН Беларуси, 220072, г. Минск, пр. Независимости, 68, Беларусь Изучение морфологии конденсированных продуктов, образующихся в результате взаимодействия излучения СО2-лазера с кристаллическим оксидом алюминия в атмосфере нейтрального газа М.Н. Ларичев1, А.М. Величко1, Г.Е. Беляев2, А.И. Никитин1, А.С. Осокин1,3, В.В. Артемов4 1 Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л.Тальрозе РАН, Москва, Ленинский проспект, 38, кор.2, 2 Объединенный институт высоких температур РАН, Москва, Ижорская ул., 13, стр.2, Россия, 3 МГУ им. М.В.Ломоносова, Физический факультет, Ленинские горы, 1, стр.2, Москва, Россия; 4 Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский проезд, 59, Москва, Россия Определение кинетических параметров вылетающих из лазерного кратера микрочастиц, по следам, оставляемым ими на поверхности образцов-свидетелей М.Н. Ларичев1, А.М. Величко1, Г.Е.Беляев2, А.И.Никитин1, А.С.Осокин1, 3, В.В.Артемов4 1 Институт энергетических проблем химической физики им. В.Л.Тальрозе РАН, Москва, Ленинский проспект, 38, кор.2, 2 Объединенный институт высоких температур РАН, Москва, Ижорская ул., 13, стр.2, Россия, 3 МГУ им. М.В.Ломоносова, Физический факультет, Ленинские горы, 1, стр.2, Москва, Россия; 4 Институт кристаллографии им. А.В.Шубникова РАН, Ленинский проезд, 59, Москва, Россия. Анализ гетероструктур на основе оксидов цинка и меди методами РЭМ и АСМ Н.А. Лашкова1, А.А. Бобков1, А.И. Максимов1, В.А. Мошников1,2, Н.В. Пермяков1, П.А. Сомов3 1 Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина) 2 Новгородский государственный университет им. Ярослава Мудрого 3 ЗАО «Светлана-Рост» Микроструктурные исследования инструментальной стали HS6-5-2C после атмосферного плазменного азотирования косвенной дугой Я.С. Лизункова1, А.И. Смирнов2, А.В. Фелофьянова2, Т. Хассель1 1 Institute of Materials Science, Leibnitz University Hannover, An der Universität 2, 30823, Garbsen, Germany 2ФГБОУ ВПО «Новосибирский государственный технический университет», 630073, г. Новосибирск, пр. К. Маркса, 20, Трехмерная реконструкция поверхности по данным РЭМ А.А. Михуткин1, В.Б. Митюхляев2, Т.Н. Баймухаметов1,3, Д.А. Карабанов2, В.П. Гавриленко2, А.Ю. Кузин2, П.А. Тодуа2, М.Н. Филиппов2, А.Л. Васильев1,4 1 Национальный исследовательский центр «Курчатовский институт», 123182 Россия, Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1 2 Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума, 119421 Россия, Москва, ул. Новаторов, д. 40, корпус 1, этаж 2 3 Московский физико-технический институт (государственный университет), 141700 Россия, Московская область, г. Долгопрудный, Институтский переулок, д. 9 4 Институт кристаллографии РАН, 119333 Россия, Москва, Ленинский проспект, д. 59 Исследование структуры и магнитных характеристик нанопроволок систем NiFe/Cu, Co/Cu, FeNi Е.Б. Модин, А.В. Кириллов, Е.В. Пустовалов, А.Н. Федорец, А.В. Дубинец, М.Е. Стеблий, В.С. Плотников ФГАОУ ВПО «Дальневосточный федеральный университет», 690950, г. Владивосток, ул. Суханова 8, Россия Анализ элементного состава и микроструктуры фтор-ионных проводников La1-ySryF3-y В.И. Николайчик1, Б.П. Соболев2, А.С. Авилов2 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 2 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, г. Москва, Ленинский пр-т 59, Россия Наноструктурная неоднородность сверхпроводников EuBa2Cu3O6+δ В.И. Николайчик1, Л.А. Клинкова2 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 2 Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия Применение РЭМ для исследования адгезионных свойств спечённых слоёв серебросодержащих паст К.Н. Нищев1, М.И. Новопольцев1, В.П. Мишкин1 , Д.С. Горбунов1, А.В. Гришанин2 1 ФГБОУ ВПО «Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева», 430000, г. Саранск, ул. Большевистская, 68, Россия 2 ОАО «Электровыпрямитель, 430001, г. Саранск, ул. Пролетарская, 126, Россия Фрактограммы, полученные методом РЭМ, и прочность волокнистых (Al2O3 – CaO)/Mo композитов Н.И. Новохатская, В.М. Кийко Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., 142432, Россия Морфология поверхности пленок CdTe И.Р. Нуриев1, А.М. Назаров1, М.А. Мехрабова2, Р.М. Садыгов1 1 Институт физики им. Академика Г.М.Абдуллаева НАН Азербайджана, AZ1143, Баку, пр.Г. Джавида, 33 2 Институт Радиационных Проблем НАН Азербайджана, AZ1143, Баку, ул.Б.Вахабзаде, 9, Азербайджан
А.М. Ополченцев, А.Э. Муслимов, А.В. Буташин, А.Н. Дерябин, В.М. Каневский Институт кристаллографии РАН, г. Москва, Россия Структура биокомпозитов на основе бактериальной целлюлозы Acetobacter xylinum и полиакриламида как перспективных заменителей хрящевых тканей А.С. Орехов1, Н.А. Архарова1, В.В. Клечковская1, А.Л. Буянов2, А.К. Хрипунов2, Р.Л. Смыслов2 1Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии им А.В. Шубникова РАН, г. Москва, Ленинский пр., 59,Россия 2 ФГБУН Институт высокомолекулярных соединений РАН, г. Санкт-Петербург, В. О. Большой пр. 31, Россия жүктеу/скачать 448.5 Kb. Достарыңызбен бөлісу:
|