Программа рэм-2015 1 июня, понедельник 10. 00 18. 30 Лекции Школы
Изучение мультикристаллов солнечного кремния методом электронно-зондового микроанализа
жүктеу/скачать 448.5 Kb.
|
- Бұл бет үшін навигация:
- Исследование физико-технологических процессов формирования чувствительных элементов датчиков линейного ускорения
- Исследование модификации поверхности меламинформальдегида методом РЭМ
- Мезоструктура поверхности аморфных металлических фольг на основе Fe
- Окисление поверхности композиционных гранул с наноалмазными упрочняющими частицами
- Лазерное повреждение поверхности оптических монокристаллов германия
- Структуро- и фазообразование при формировании ионно-плазменных вакуумно-дуговых покрытий, адаптируемых к меняющимся условиям трения
- Особенности формирования межфазной границы при лазерной сварке разнородных материалов
- Исследование морфологии тонких пленок TiO 2 методами атомно-силовой микроскопии
- Комплексное микроскопическое исследование многокомпонентных подшипниковых алюминиевых сплавов
- Влияние примесей на морфологию пленок SnO 2
- Влияние подложки на морфологию формирования пленок AgI методом лазерной абляции
- Влияние термической обработки на строение сварных швов разнородных сталей, полученных стыковой контактной сваркой
- Формирование доменной структуры облучением электронным лучом Z+ полярной поверхности MgO:LN
- Исследование строения границ раздела в МДП-структрах на основе A 3 B 5 -полупроводников
- Электронномикроскопические исследования мультислойных аморфно-нанокристаллических покрытий(нс)AlN-(ам)Si 3 N 4 )/(нс)TiN
- Исследования микроструктуры ультратонких слоев high-k диэлектриков на основе HfO 2 методами просвечивающей растровой электронной микроскопии
- Практика исследования титановых сплавов методом электронной микроскопии
Изучение мультикристаллов солнечного кремния методом электронно-зондового микроанализа Л.А. Павлова, С.М. Пещерова, А.И. Непомнящих ФГБУН Институт геохимии им. А.П.Виноградова СО РАН, Иркутск, Фаворского, 1А Исследование физико-технологических процессов формирования чувствительных элементов датчиков линейного ускорения Н.М.Парфёнов1, А.С.Тимошенков2 1МАИ, 125993, Москва, ГСП-3, Волоколамское шоссе, д. 4,e-mail:sedennik@mail.ru 2МИЭТ, 124498, Москва-Зеленоград, проезд 4806, строение 1, e-mail:spt@miee/ru Исследование влияния режимов формирования пленок оксида цинка на их структуру А.Н. Петлицкий1, В.А. Пилипенко1, С.В. Шведов1, В.В. Цыбульский1, В.П. Бондаренко2, Е.Б. Чубенко2, А.И. Шерстнев2 1 НТЦ «Белмикросистемы» ОАО «ИНТЕГРАЛ», 220108, г. Минск, ул. Корженевского 12, Беларусь 2 Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, 220013, г. Минск, ул. П. Бровки 6, Беларусь Исследование пленок на основе детонационных наноалмазов методами электронной микроскопии Д.Е. Петренко1,2, Р.А. Камышинский1,2, А.Н. Коровин2, Т.У. Григорьев2, С.Н. Чвалун2, А.В. Алленов1,2, Г.А. Юрасик3, С.П. Молчанов3, П.В. Лебедев-Степанов3, А.Т. Дидейкин4, А.Я. Вуль4, А.Л. Васильев2
1 «Санкт-Петербургский государственный университет», 198504, Санкт-Петербург, Россия 2 «Санкт-Петербургский университет информатики,точной механики и оптики», 197101, Санкт-Петербург, Россия
Д.А. Полянский, В.В. Ткачев, Г.С.Крайнова, В.С. Плотников, А.В. Дубинец, Н.В. Ильин Дальневосточный федеральный университет, г. Владивосток, ул. Суханова 8 Применение сканирующей электронной микроскопии для исследования структуры композиционных гранул с наноалмазными упрочняющими частицами В.А. Попов Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Москва, Россия Влияние режимов механического легирования на распределение наноалмазных упрочняющих частиц в композитах с матрицей из алюминия, цинка и олова В.А. Попов1, А.С. Просвиряков1, Д.М. Матвеев2, И.М. Карнаух1, И.И. Ходос3, Е.В. Вершинина4 1 Национальный исследовательский технологический университет «МИСИС», Москва, Россия 2 Институт физики твердого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 3 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 4 Московский государственный университет тонких химических технологий имени М.В. Ломоносова, Москва, Россия Исследование нанокомпозиционных покрытий методами сканирующей электронной микроскопии В.А. Попов Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Москва, Россия Окисление поверхности композиционных гранул с наноалмазными упрочняющими частицами В.А. Попов Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС», Москва, Россия Исследование формирования наночастиц в кремнии методом легирования ионами цинка большой дозой с помощью РЭМ, ПЭМ и АСМ В.В. Привезенцев1, Н.Ю. Табачкова2, К.Б Эйдельман2, С.В Ксенич2, А.А. Батраков3 1 Физико-технологический институт РАН, Moсква, Россия 2 Национальный исследовательский университет «МИСиС», Москва, Россия 3 Национальный исследовательский университет «МЭИ», Москва, Россия Локальный атомный порядок аморфных сплавов CoP-CoNiP по данным дифракционного анализа Е.В. Пустовалов1, Е.Б Модин1, А.В. Федорец1, А.Н. Дубинец1, С.С. Грабчиков2, В.С. Плотников1 1 Дальневосточный федеральный университет, 690950, г.Владивосток, Суханова 8 2 «Научно-практический центр НАН Беларуси по материаловедению, 220072, г. Минск, П. Бровки 19, Беларусь Лазерное повреждение поверхности оптических монокристаллов германия В.Е. Рогалин1, И.А. Каплунов2, Р.М. Гречишкин2, А.И. Иванова2 1 ФГУП «НПО Астрофизика» 123424, г. Москва, Волоколамское ш-е, 95/3 2 Тверской государственный университет 170100 г.Тверь,ул.Желябова, 33. Исследование микроскопических характеристик полиметилметакрилата с наночастицами серебра, сформированного методом ионной имплантации И.Р. Сафина1, И.Б. Аксенов1, А.Р. Бадрутдинов1, Е.В. Нуждин1, В.И. Нуждин2, В.Ф. Валеев2, А.Л. Степанов2 1 «Казанский национальный технический университет имени А.Н. Туполева-КАИ», 420111, Казань, К.Маркса 31/7 2 «Казанский физико-технический институт имени Е.К. Завойского КазНЦ РАН», 420029, Казань, ул. Сибирский тракт, д. 10/7 Характеризация моноклинной фазы в тонких пленках ЦТС в области морфотропной фазовой границы С.В. Сенкевич 1, И.П. Пронин 1, Е.Ю. Каптелов 1, В.П. Пронин 2, А.Г. Канарейкин 2, В.М. Стожаров2 1 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, 194021, г. Санкт-Петербург, Политехническая ул. 26, Россия 2 Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, 191186, Санкт-Петербург, набережная реки Мойки 48, Россия Структуро- и фазообразование при формировании ионно-плазменных вакуумно-дуговых покрытий, адаптируемых к меняющимся условиям трения В.С. Сергевнин, И.В. Блинков, А.О. Волхонский, Ю.Г. Зудина НИТУ «МИСиС», г. Москва, Ленинский проспект, 4 Особенности формирования межфазной границы при лазерной сварке разнородных материалов А.И. Смирнов, А.А. Никулина, А.А. Чевакинская, Т.А. Калашникова ФГБОУ ВПО «Новосибирский государственный технический университет», 630073, г. Новосибирск, пр. К. Маркса, 20, Исследование морфологии тонких пленок TiO2 методами атомно-силовой микроскопии А.Ю. Степанов, Л.В. Сотникова, А.А. Владимиров, Ф.В. Титов, Д.В. Дягилев, С.А. Созинов ГОУ ВПО «Кемеровский государственный университет», г. Кемерово, ул. Красная 6 Влияние отжига на структуру нанопористых оксидных пленок на порошковом сплаве титан-алюминий К.В. Степанова1, Н.М. Яковлева1, А.Н. Кокатев1, Х. Петтерссон2 1 ФГБОУ ВПО «Петрозаводский государственный университет» г. Петрозаводск, Россия, 185910 2 Университет г. Хальмштад, Швеция Выращивание и диагностика пленок высокотемпературных сверхпроводников Е.А. Степанцов1, Р. Арпайя2, Ф. Ломбарди2 1 Институт кристаллографии РАН, 119333, г. Москва, Ленинский пр. 59, Россия, 2 Технологический университет Чалмерса, Гетеборг, Швеция Комплексное микроскопическое исследование многокомпонентных подшипниковых алюминиевых сплавов О.О. Столярова, Т.И. Муравьёва, Б.Я. Сачек, А.М. Мезрин, Д.Л. Загорский Институт проблем механики им А.Ю.Ишлинского РАН,119526, г.Москва, пр.Вернадского 101 Стратификационные эффекты лент быстрозакаленных сплавов по толщине В.В. Ткачев1, Г.С. Крайнов, А.М. Фролов, С.В. Должиков Дальневосточный федеральный университет, 690950, г. Владивосток, Суханова 8, Россия Влияние примесей на морфологию пленок SnO2 Томаев В.В.1,3, Глазов А.И.2 1 -Санкт–Петербургский государственный университет, Кафедра лазерной химии и лазерного материаловедения, 198504, Санкт-Петербург, Петродворец, Университетский пр., 26, e-mail: tvaza@mail.ru. 2 - Национальный минерально-сырьевой университет «Горный», Кафедра минералогии, кристаллографии и петрографии, 199106, Санкт-Петербург, 22-я линия, 2, e-mail: aglazov1942@mail.ru. 3 - Национальный минерально-сырьевой университет «Горный», Кафедра общей и технической физики, 199106, Санкт-Петербург, 22-я линия, 2. Влияние подложки на морфологию формирования пленок AgI методом лазерной абляции В.В. Томаев1, В.А. Полищук2,С.В. Фокина1, Ю.С. Тверьянович1, Е.Н. Борисов1 1 Институт химии, Санкт-Петербургский государственный университет, Университетский пр. 26, Петродворец, Санкт-Петербург, 198504, Россия, e-mail: tvaza@mail.ru 2 Санкт-Петербургский университет информационных технологий, механики и оптики, Россия, 197101, г. Санкт-Петербург, Кронверкский пр., д.49, e-mail: Механизм формирования аномально светлого контраста в наведенном токе от плоскостей скольжения за дислокациями в кремнии О.В. Феклисова1, Е.Б. Якимов1, В.И. Орлов1,2 1 Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия 2 Институт физики твёрдого тела РАН, г. Черноголовка, Московская обл., Россия РЭМ-идентификация аморфного состояния на лентах Fe-B А.М. Фролов1, Г.С. Крайнова1, С.В. Должиков1 1 Дальневосточный федеральный университет, 690950, г. Владивосток, Приморский край, Россия Влияние термической обработки на строение сварных швов разнородных сталей, полученных стыковой контактной сваркой А.А. Чевакинская, А.А. Никулина, Т.А. Калашникова, А.С. Денисова ФГБОУ ВПО «Новосибирский государственный технический университет», 630073, г. Новосибирск, пр. К. Маркса, 20, Формирование доменной структуры облучением электронным лучом Z+ полярной поверхности MgO:LN Д.С. Чезганов1,2, М.М. Смирнов1, Д.О. Аликин1, М.М. Нерадовский1, Д.К. Кузнецов1, В.Я. Шур1,2 1 Институт естественных наук УрФУ, г. Екатеринбург, Россия 2 ООО «Лабфер», 620014, г. Екатеринбург, Россия Исследование строения границ раздела в МДП-структрах на основе A3B5-полупроводников А.Г. Черков1,2, С.Е. Хандархаева1, А.К. Гутаковский2, Н.А. Валишева2, М.С. Аксенов2, В.А. Голяшов2, О.Е. Терещенко1,2
А.В. Черногор, И.В. Блинков, А.О. Волхонский, С. Нематулаев НИТУ «МИСиС», г. Москва, Ленинский проспект, 4 Исследования микроструктуры ультратонких слоев high-k диэлектриков на основе HfO2 методами просвечивающей растровой электронной микроскопии Ю.М. Чесноков1, А.Л. Васильев1,2, А.В. Мяконьких3, К.В. Руденко3 1 НИЦ "Курчатовский институт" 123182, г, Москва, пл. Ак. Курчатова,1 ,Россия 2 Учреждение РАН "Институт кристаллографии РАН им. А.В. Шубникова", 119333, г. Москва, Ленинский пр., 59 3 Учреждение РАН "Физико-технологический институт РАН", 117218, г. Москва, Нахимовский пр., 36/1, Россия Практика исследования титановых сплавов методом электронной микроскопии Е.А. Шушакова, Н.П.Волкова, А.Н. Панкратов, Д.А. Сухоросов, А.В. Волков ОАО «Корпорация ВСМПО-АВИСМА», 624760, г. Верхняя Салда, Свердловская обл., Россия Исследование структуры и механических характеристик керамики на основе соосажденных пентаоксидов Nb2(1-y)Ta2yO5 методами сканирующей электронной и зондовой микроскопии О.Б. Щербина, М.Н. Палатников, В.В Ефремов, В.В. Семушин Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химии и технологии редких элементов и минерального сырья им. И.В. Тананаева Кольского научного центра Российской академии наук (ИХТРЭМС КНЦ РАН) 184209, Мурманская область, Апатиты г., Академгородок мкр., 26а Исследование процесса деградации и разрушения исторического стеклянного бисера методами растровой электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа Т.В. Юрьева1, И.Б. Афанасьев2, В.А. Юрьев3 1 Государственный научно-исследовательский институт реставрации, 107014, г. Москва, ул. Гастелло, 44, стр. 1, 2 Экспертно-криминалистический центр МВД России, 125130, г. Москва, ул. Зои и Александра Космодемьянских, 5, 3 Институт общей физики им. А.М. Прохорова РАН, 119991, г. Москва, ул. Вавилова, 38, Россия жүктеу/скачать 448.5 Kb. Достарыңызбен бөлісу:
|