Кристаллографияның құрылымдық негізі
Құрылымдық кристаллографияның элементтері
Рентген сәулелерінің физикасы
Рентген сәулесі деп толқын ұзындығы 80 0,0001 нм аралығында жататын электромагниттік толқынды айтады. Ол ұзын толқын жағынан ультракүлгін сәулемен, қысқа толқын жағынан -сәулесімен шектеседі. Ол көзге көрінбейді, оны байқау үшін флуоресценттік экран немесе фотоүлбі (фотопленка) қолданылады.
Интенсивтілік көбейткіштері
Рентгенотехника
Рентген трубкалары және аппараттарын анықтау
Рентген камерасы түрін таңдау
зерттеу есебінен түсіру шартының байланысын және зерттелетін объекттің мінезін анықтау.
Рентген құрылымдық талдау әдісі
Жазықтық араларына затты орналастыру
Металдардағы құрылымдық ақаулардың рентгенографиялық зерттеуі
қорытпалардағы құрылымдық ақаулардың рентгенографиялық зерттеуі
Деформацияланған металдардың ақау концентрациясын анықтау.
Металдардағы ішкі кернеуді рентгенграфика арқылы анықтау
Аппроксимация әдісі арқылы микрокернеу сандарын және мозайка блоктарын анықтау.
Текстурдың рентгенграфикалық талдауы
Материалдың текстурдік талдауы.
Рентгендік фазалық талдауы
Рентген фазалық сапалық талдау
Рентген фазалық сандық талдауы
Рентгенспектралді талдауы
Спектограмма арқылы химиялық құрамын анықтау.
Электронография
Нейтронография
Поликристалдық үлгіні электрограммалық есептеу.
Достарыңызбен бөлісу: |
